Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (13)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=многоканальные анализаторы эмиссионных спектров<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Петров, А. М.
    Анализ чистых цветных и редких металлов методом атомно-эмиссионной спектрометрии с фотодиодной регистрацией [Текст] / А. М. Петров, В. Б. Барановская, Ю. А. Карпов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 9. - С. 4-11. . - Библиогр.: с. 11 (6 назв. )
УДК
^a543.4/.5
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
анализ металлов -- чистые металлы -- цветные металлы -- редкие металлы -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- спектрометрия -- фотодиодная регистрация -- определение примесей -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- ДАЭА -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- эмиссионные спектры -- программное обеспечение
Аннотация: Исследованы аналитические возможности прямого определения примесей в чистых цветных и редких металлах дуговым атомно-эмиссионным методом с применением многоканального анализатора эмиссионных спектров.


Доп.точки доступа:
Барановская, В. Б.; Карпов, Ю. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
2.


   
    Сорбционно-атомно-эмиссионное определение As, Bi, Sb, Se и Te в возвратном металлсодержащем сырье [Текст] / М. С. Доронина [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 11. - С. 3-7. - Библиогр.: с. 6-7 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
^a543.62
^a543.4/.5
ББК 24.44 + 24.46/48
Рубрики: Химия
   Анализ неорганических веществ
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
сорбционное концентрирование -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- металлсодержащее сырье -- возвратное сырье -- вторичное металлсодержащее сырье -- мышьяк -- висмут -- сурьма -- селен -- теллур -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- азотсеросодержащие сорбенты -- токсичные элементы -- контроль токсичности -- методы анализа сырья -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров
Аннотация: Разработан комбинированный метод анализа вторичного сырья, включающего сорбционное концентрирование As, Bi, Sb, Se, Te и их атомно-эмиссионное определение в фазе сорбента или в растворе концентрата, полученном при последующей десорбции.


Доп.точки доступа:
Доронина, М. С.; Ширяева, О. А.; Филатова, Д. Г.; Петров, А. М.; Дальнова, О. А.; Барановская, В. Б.; Карпов, Ю. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 09.07.2024
Число запросов 13917
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)