Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (5)

БД "Статьи" (117)

Труды АМГУ (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 81
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Лапенас, Андрей.
Знакомьтесь: четыре микроскопа в одной упаковке [Текст] / А. Лапенас, О. Шаповалюк // Инновации. - 2007. - N 12. - С. 118-120 : Рис. - Библиогр.: с. 120 (7 назв. )

УДК

^a608

ББК 30у
Рубрики: Техника
Изобретательство и рационализация. Патентное дело--Чехия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- настольные микроскопы -- электронные микроскопы -- просвечивающие микроскопы -- сканирующие микроскопы -- изобретения -- зарубежные страны
Аннотация: Чешские ученые изобрели настольный низковольтный электронный просвечивающий и сканирующий микроскоп LVEM5.

Доп.точки доступа:
Шаповалюк, Олег

Найти похожие

Чмыхов, Д. В.
Анализ высотных измерений методом фокусировки объекта на базе оптического микроскопа LEICA DM IRM [Текст] / Д. В. Чмыхов, В. И. Аверченков // Вестник Брянского государственного технического университета. - 2008. - N 1. - С. 34-38. - Библиогр.: с. 38 (4 назв. )

УДК

^a53.07

ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
высотные измерения -- метод фокусировки -- LEICA DM IRM -- оптические микроскопы
Аннотация: Анализируется целесообразность применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца.

Доп.точки доступа:
Аверченков, В. И.

Найти похожие

Аверченков, В. И.
Метод компьютерной реконструкции рельефа поверхности интерпретацией сфокусированности изображений [Текст] / В. И. Аверченков, Д. В. Чмыхов // Вестник Брянского государственного технического университета. - 2008. - N 2. - С. 111-116. - Библиогр.: с. 116 (6 назв. )

УДК

^a519.22

ББК 22.172
Рубрики: Математика
Математическая статистика
Кл.слова (ненормированные):
компьютерная реконструкция -- рельеф поверхности -- оптические микроскопы -- интерпретация сфокусированности -- сфокусированность изображений
Аннотация: Рассмотрен новый метод компьютерной реконструкции объемной модели рельефа исследуемой поверхности анализа набора фотографий, получаемых на оптическом микроскопе.

Доп.точки доступа:
Чмыхов, Д. В.

Найти похожие

Устинов, К. Б.
Об уточнении граничных условий для балочной модели кантилевера атомно-силового микроскопа и их влиянии на интерпретацию результатов измерений [Текст] / К. Б. Устинов // Известия РАН. Механика твердого тела. - 2008. - N 3. - С. 182-188. - Библиогр.: с. 188 (6 назв. )

УДК

^a531

ББК 22.251
Рубрики: Механика
Механика твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
балочные модели -- атомно-силовые микроскопы -- кантилеверы -- модуль Юнга -- Юнга модуль -- численное определение -- методы конечные элементы -- коэффициенты Пуассона -- Пуассона коэффициенты
Аннотация: Исследовано влияние граничных условий балочной модели кантилевера атомно-силовые микроскопа на результаты вычислений.

Найти похожие

Исследование рельефа поверхности и доменной структуры монокристаллов R (Co, Cu) 5 методами атомно-силовой микроскопии [Текст] / Ю. В. Кузнецова [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2007. - N 6 (Физика). - С. 42-50. - Библиогр.: с. 50 (4 назв. )

УДК

^a537.6

ББК 22.334
Рубрики: Физика
Магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- редкоземельные интерметаллиды -- атомно-силовые микроскопы -- сплавы -- атомно-силовая микроскопия
Аннотация: Исследование рельефа поверхности и доменной структуры ряда редкоземельных интерметаллидов методами сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Кузнецова, Ю. В.; Супонев, Н. П.; Дегтева, О. Б.; Калинкина, Е. В.

Найти похожие

Экспериментальное и численное моделирование эластомерных композитов путем исследования нанослоев полиизопрена на углеродной поверхности [Текст] / Морозов И. А. [и др. ] // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 1. - С. 3-15 : 10 ил. - Библиогр.: с. 14-15 (28 назв. ) . - ISSN 1029-6670

УДК

^a678.078.2

^a519.8

ББК 35.711 + 22.18
Рубрики: Химическая технология
   Полимеры по видам структуры
   Математика
   Исследование операций
Кл.слова (ненормированные):
эластомерные композиты -- нанопленки -- атомно-силовые микроскопы -- сила Ван-дер-Ваальса -- Ван-дер-Ваальса сила -- полимеры -- полиизопрен на углеродной поверхности -- полиизопрен -- наполненные эластомеры -- эластомеры -- композиционные материалы -- моделирование эластомерных композитов -- нанослои полиизопрена
Аннотация: Представлена методика изготовления, экспериментального исследования и численного моделирования нанопленок полимера на углеродистой поверхности с помощью атомно-силового микроскопа.

Доп.точки доступа:
Морозов, И. А. (Институт механики сплошных сред УрО РАН); Гаришин, О. К.; Володин, Ф. В.; Кондюрин, А. В.; Лебедев, С. Н.

Найти похожие

Гольдштейн, Р. В.
О некоторых особенностях механического поведения кантилеверов атомно-силовых микроскопов [Текст] / Р. В. Гольдштейн, В. А. Городцов, К. Б. Устинов // Инженерная физика. - 2009. - N 4. - С. 19-23

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
консоль -- кантилеверы -- атомно-силовые микроскопы -- упругость -- механические элементы
Аннотация: Представления о структуре и работе АСМ опираются обычно на идеализированные модели составляющих элементов. Например, в качестве главного механического элемента рабочего органа АСМ - кантилевера рассматривается однородная консоль прямоугольного сечения с жесткой заделкой. В настоящей работе рассматриваются два уточнения механической модели работы кантилевера. Одно уточнение упрощенных представлений касается учета изменений в распределении массы и жесткости кантилеверов по их длине. Подобные изменения из-за покрытий, несовершенства технологии изготовления и т. п. играют большую роль, прежде всего, при динамическом режиме работы АСМ [1, 2]. Другое уточнение затрагивает учет подвижности заделки кантилеверов, упругость консоли и держателя консоли. В обоих случаях рассматривается вклад соответствующих параметров в изменение статических и динамических характеристик АСМ.

Доп.точки доступа:
Городцов, В. А.; Устинов, К. Б.

Найти похожие

Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии [Текст] / А. В. Заблоцкий [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 8. - С. 2-6. - Библиогр.: с. 6 (6 назв. ) . - ISSN 1813-8586

УДК

^a621.38

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- нанотехнологии -- зондовые микроскопы -- компьютерное моделирование
Аннотация: Для преодоления проблемы применения зондовых микроскопов в качестве измерительного средства в нанометровом диапазоне, где размеры зонда сопоставимы с размером исследуемого объекта, представлена новая концепция проведения измерений.

Доп.точки доступа:
Заблоцкий, А. В.; Батурин, А. С.; Шешин, Е. П.; Бормашов, В. С.; Нагирный В. П.; Коростылев, Е. В.

Найти похожие

Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a537.533/.534

^a004.93

ББК 22.338 + 32.973-018.2
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
   Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ
Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений.

Доп.точки доступа:
Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В.

Найти похожие

10.

Реализация наношкалы в России [Текст] / В. Гавриленко [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 36-42 : ил.: 10 рис. - Библиогр.: с. 42 (6 назв. )

УДК

^a389

ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
метрология -- нанометрология линейных измерений -- наношкала -- РЭМ -- растровые электронные микроскопы
Аннотация: Развитие нанотехнологии требует решения проблемы обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапозоне.

Доп.точки доступа:
Гавриленко, В.; Новиков, Ю.; Раков, А.; Тодуа, П.

Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Тематический навигатор

Статистика за 28.07.2024
Число запросов	150151
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)