Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (4)Труды АМГУ (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=метод рентгеноструктурного анализа<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Использование фотофизически активных элементов ионных полипсевдоротаксанов для анализа супрамолекулярной структуры полимерного колье [Текст] / А. В. Теньковцев [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 584-589. - Библиогр.: с. 588-589 (20 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
метод рентгеноструктурного анализа -- люминесценция -- генерация второй гармоники -- ионные полипсевдотаксаны -- полимерное колье
Аннотация: На примере ионного полипсевдоротаксана на основе поли (2-акриламидо-2-метил-пропансульфокислота-N, N-диметил-N'- (4-нитрофенил) -декан-1, 10-диамин-альфа-циклодекстрина, содержащего фотофизически активные группы в боковых цепях, показана эффективность совместного применения рентгеноструктурного анализа, методов генерации второй гармоники и люминесценции в твердом теле для определения строения и надмолекулярного упорядочения полимерных комплексов, основанных на комбинации ионных и гидрофобно-гидрофильных взаимодействий.


Доп.точки доступа:
Теньковцев, А. В.; Суханова, Т. Е.; Компан, М. Е.; Лукошин, В. А.; Бурсиан, А. Э.; Перминова, М. П.

Найти похожие

2.


   
    Получение гетероструктур на основе нанокристаллических слоев политипов карбида кремния [Текст] / А. В. Семенов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 6. - С. 845-852. : ил. - Библиогр.: с. 851-852 (25 назв. )
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
гетероструктуры -- нанокристаллические пленки -- карбид кремния -- подложки -- ионное осаждение -- рентгеноструктурный анализ -- метод рентгеноструктурного анализа -- фотолюминесценция -- спектры фотолюминесценции -- ФЛ -- оптическая спектроскопия -- оптическое поглощение -- ОП -- рентгеновская дифрактометрия -- РД -- нанокристаллические политипы -- оптическое отражение -- ОО
Аннотация: Показана возможность формирования гетероструктуры, состоящей из нанокристаллических слоев, - нижнего (на подложке) кубического политипа 3C и верхнего ромбоэдрического политипа 21R с использованием метода прямого ионного осаждения нанокристаллических пленок карбида кремния и градиентного нагрева подложек. Проведен детальный анализ структуры и последовательности расположения слоев карбида кремния с применением методов рентгеноструктурного анализа, фемтосекундной фотолюминесценции, оптической спектроскопии. Обсуждается природа максимумов, наблюдаемых в спектрах фотолюминесценции, оптического отражения и поглощения.


Доп.точки доступа:
Семенов, А. В.; Лопин, А. В.; Пузиков, В. М.; Баумер, В. Н.; Дмитрук, И. Н.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 31.07.2024
Число запросов 53313
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)