Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=лазерная интерферометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.


    Бараш, В. Я. (начальник лаборатории).
    От динамических измерений к измерениям параметров движения [Текст] / В. Я. Бараш, Л. К. Исаев // История науки и техники. - 2010. - N 9. - С. 40-42. : фот.
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
динамические измерения -- лазерная интерферометрия -- вибропреобразователь -- метрологи -- профессоры
Аннотация: История создания лаборатории эталонов параметров движения связана с именем выдающегося отечественного метролога-профессора П. Н. Агалецкого.


Доп.точки доступа:
Исаев, Л. К. (заместитель директора); Агалецкий, П. Н. (метролог-профессор); Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы; ВНИИМС
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

2.


    Бабенко, Марина Геннадиевна.
    Измерение остаточных напряжений в материале технических объектов методом зондирующего отверстия [Текст] / М. Г. Бабенко, С. В. Слесарев, А. И. Бабенко // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2011. - N 56. - С. 21-23. : ил. - Библиогр.: с. 23 (6 назв. )
УДК
ББК 34.47
Рубрики: Машиностроение
   Испытание машин и механизмов

Кл.слова (ненормированные):
остаточные напряжения -- напряжения -- технические объекты -- зондирующие отверстия -- отверстия -- неразрушающий контроль -- лазерная интерферометрия -- интерферометрия
Аннотация: Представлена классификация способов определения остаточных напряжений методами неразрушающего контроля. Приведены критерии выбора оптимального метода неразрушающего контроля. Описан способ определения остаточных напряжений на основе лазерной интерферометрии.


Доп.точки доступа:
Слесарев, Сергей Валентинович; Бабенко, Андрей Игоревич
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

3.


    Гончар, Игорь Валерьевич.
    Быстродействующий интерферометрический измеритель толщины пленок в диапазоне от десяти до тысячи микрон [Текст] / И. В. Гончар, А. С. Иванов, А. Б. Федорцов // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. - 2012. - № 3 (153). - С. 48-55 : ил., табл., схемы. - Библиогр.: с. 55 (11 назв.) . - ISSN 1994-2354
УДК
ББК 22.342 + 35.719
Рубрики: Физика
   Геометрическая оптика. Оптические приборы

   Химическая технология

   Полимеры и пластмассы с особой структурой, особыми свойствами и специального назначения

Кл.слова (ненормированные):
интерферометры -- интерферометрические измерители -- полимеры -- полимерные пленки -- пленки -- толщина пленок -- лазерная интерферометрия -- твердые пленки -- жидкие пленки
Аннотация: Описан быстродействующий лазерно-интерферометрический прибор для исследования толщины пленок, прозрачных в видимом или инфракрасном диапазонах. Пределы измеряемых толщин - от 10 мкм до 1 мм. Частота измерений - 25 раз в секунду, время одного измерения - 3*10[-4] с. Это позволяет измерять толщину нестабильных, в том числе жидких, пленок. Благодаря совмещению в одном приборе двух способов определения толщины - по числу пиков угловой зависимости коэффициента отражения лазерного луча и по значению этого коэффициента при заданном угле падения, - удалось снизить ошибку в определении толщины до 150 нм.A fast-operating laser-interferometric device for measuring the thickness of films which are transparent in visible or infrared ranges is described in this work. The thickness of the films to be investigated is from 10 [mu]m to 1 mm. Measuring frequency is 25 times per second, time of one measurement is 3*10[-4] s. This allows measuring the thickness of unstable films including liquid ones. Due to combining two ways of determining the thickness in one device (by the number of peaks in the angular dependence of the laser beam reflectance coefficient, and by the value of this coefficient at a given angle of incidence) the error in determining the thickness is only 150 nm.


Доп.точки доступа:
Иванов, Алексей Сергеевич; Федорцов, Александр Борисович
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

4.


    Быстров, Валерий Александрович (доктор технических наук ; профессор).
    Термодинамическая совместимость твердых частиц с матрицей композиционных материалов [Текст] / В. А. Быстров, О. Г. Трегубова // Доклады Академии наук высшей школы Российской Федерации. - 2015. - № 4 (29). - С. 28-41. - Библиогр.: с. 38-39 (18 назв.). - Аннот. на англ. яз.: с. 39-40 . - ISSN 1727-2769
ГРНТИ
УДК
ББК 22.317
Рубрики: Физика
   Термодинамика и статистическая физика

Кл.слова (ненормированные):
термодинамическая совместимость -- рентгеноструктурный анализ -- лазерная интерферометрия -- композиционные материалы -- твердые частицы -- физика твердого тела -- микрорентгеноспектральный анализ -- термические деформации -- дислокационный анализ -- энергетический анализ -- износостойкость деталей -- высокотемпературный износ -- спеченные твердые сплавы -- твердые сплавы
Аннотация: С помощью физических методов лазерной интерферометрии, рентгеноструктурного, дислокационного и энергетического анализов исследованы и разработаны наиболее эффективные пути повышения износостойкости деталей, упроченных новыми композиционными материалами на основе спеченных твердых сплавов при высокотемпературном износе.


Доп.точки доступа:
Трегубова, Ольга Геннадьевна (старший преподаватель)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 31.07.2024
Число запросов 134533
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)