Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=испытания образцов<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Лебедев, А. В.
    Методика функционального тестирования СБИС микроконтроллеров и микропроцессов при проведении радиационных испытаний [Текст] / А. В. Лебедев, И. И. Шагурин // Инженерная физика. - 2008. - N 2. - С. 49-55
УДК
^a681.2.08
ББК 34.97
Рубрики: Приборостроение
   Испытание и контроль приборов
Кл.слова (ненормированные):
микроконтроллеры -- микропроцессоры -- испытания образцов -- функциональное тестирование -- радиационные испытания -- электронная аппаратура
Аннотация: Разработана методика испытаний на радиационную стойкость микроконтроллеров и микропроцессоров, обеспечивающих проверку функционирования основных функциональных блоков и выявление их отказов. Данная методика использована для испытания образцов 8-разрядных микроконтроллеров AT89S8252, PIC16C774, ATmega128.


Доп.точки доступа:
Шагурин, И. И.

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 28.07.2024
Число запросов 18387
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)