Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (17)

БД "Статьи" (30)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=интегральные микросхемы<.>)

Общее количество найденных документов : 26
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-26

Подъяпольский, Сергей Борисович.
Требования к системе обеспечения и контроля качества изготовления ИМС в условиях кремниевых фабрик [Текст] / С. Б. Подъяпольский // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 6. - С. 81-82. - Библиогр.: с. 82 (2 назв. )

УДК

^a621.38

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника
Кл.слова (ненормированные):
контроль -- качество -- интегральные микросхемы -- изготовление -- операционный контроль -- документация
Аннотация: Требования предъявляемые при изготовлении интегральных микросхем.

Найти похожие

Падеров, Виктор Петрович.
Влияние параметров канала полевого транзистора на характеристики интегральной микросхемы истокового повторителя [Текст] / В. П. Падеров, С. В. Никитанов // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 3. - С. 30-35. - Библиогр.: с. 35 (4 назв. )

УДК

^a621.3

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
Электротехника
Кл.слова (ненормированные):
p-n-переходы -- транзисторы -- полевые транзисторы -- микросхемы -- интегральные микросхемы -- электрические параметры -- характеристики -- повторители -- истоковые повторители -- микрофоны -- электронные микрофоны
Аннотация: Проанализировано влияние параметров канала полевого транзистора с управляющим p-n-переходом на электрические параметры интегральной микросхемы истокового повторителя, работающей в малогабаритном электретном микрофоне.

Доп.точки доступа:
Никитанов, Сергей Валерьевич

Найти похожие

Лобская, Ирина Владимировна.
Формализация задачи построения центроидных структур в перцизионных аналоговых микросхемах [Текст] / И. В. Лобская // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 1. - С. 49-54 : ил. - Библиогр.: с. 54 (4 назв. )

УДК

^a658.51

ББК 30.61
Рубрики: Техника
Технологические процессы
Кл.слова (ненормированные):
аналоговые схемы -- интегральные микросхемы -- топологии -- центроидные структуры -- прецизионные элементы
Аннотация: Проведен анализ различных реализаций центроидных структур. Сформулированы требования к прецизионным структурам, которые следует выполнять для достижения симметрии.

Найти похожие

Наука, образование, технологии и ИТ-бизнес [Текст] // Дистанционное и виртуальное обучение. - 2008. - N 6. - С. 120-134. - Обзор подготовлен по материалам, представленным компаниями Microsoft, IBM East Europe/Asia, SoftLine . - ISSN 1561-2449

УДК

^a371.69:004.3

ББК 74с
Рубрики: Образование. Педагогика
Применение вычислительной техники в педагогике--Москва, город--Россия--Санкт-Петербург, город; Франция
Кл.слова (ненормированные):
компьютерное программирование -- чемпионаты мира -- информационные технологии -- высшая школа -- вузы -- инновации -- медицинские проекты -- международные форумы -- суперкомпьютеры -- ресурсоемкие вычисления -- СПИД -- нейтрализация вируса СПИДа -- разработка лекарств -- разработка вакцины -- лекарственная терапия -- фармокология -- ингибиторы -- интегрированная система -- научные исследования -- бизнес -- центры инноваций -- информационные центры -- пожары -- лесопожарные службы -- тушение пожаров -- проекты -- конкурсы -- полупроводниковые элементы -- полупроводниковые чипы -- энергосбережение -- транзисторы нового типа -- миниатюризация транзисторов -- нанофотонные коммутаторы -- сетевые импульсы -- световые потоки -- оптические сети -- интегральные микросхемы -- компьютерные чипы
Аннотация: Дан обзор новых информационных технологий в области образования, полупроводниковом производстве, медицине, энергосбережении.

Доп.точки доступа:
Университет Эдинбурга; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики; IBM, корпорация; Imagine Cup, финал Кубка технологий; Проект Хошими - Битва программистов, конкурс; Битва интеллектов, чемпионат мира по программированию

Найти похожие

Овчинников, Вячеслав Алексеевич.
Разработка технологии ретуширования прозрачных дефектов фотошаблонов на лазерной установке ЭМ-5001Б [Текст] / В. А. Овчинников // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 4. - С. 25-28 : рис. - Библиогр.: с. 28 (4 назв. )

УДК

^a621.396

ББК 32.84
Рубрики: Радиоэлектроника
Общая радиотехника
Кл.слова (ненормированные):
режим осаждения -- фотолитография -- литографические процессы -- интегральные микросхемы -- кремниевые пластины
Аннотация: Установлена зависимость высоты осажденного материала от режимов осаждения, кратности проходов и длины осажденной линии. Определены технологические режимы процесса устранения прозрачных дефектов на фотошаблоне.

Найти похожие

Сергеев, Вячеслав Андреевич.
Контроль качества сборки цифровых интегральных схем с использованием матрицы тепловых импедансов [Текст] / В. А. Сергеев, В. В. Юдин // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 6. - С. 72-78 : рис. - Библиогр.: с. 78 (10 назв. )

УДК

^a621.382

ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
тепловой импеданс -- цифровые интегральные схемы -- контроль качества -- полупроводниковые микросхемы -- интегральные микросхемы
Аннотация: Описаны способ и устройство косвенного измерения параметров матрицы тепловых импедансов (МТИ) логических элементов цифровых интегральных схем (ЦИС). Приведен пример измерения указанных параметров для серийных отечественных ЦИС. Показана возможность выявления дефектных ЦИС по параметрам МТИ.

Доп.точки доступа:
Юдин, Виктор Васильевич

Найти похожие

Физическая модель процесса старения МОП-структуры [Текст] / М. А. Булушева [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44. N 4. - С. 527-532 : ил. - Библиогр.: с. 532 (14 назв. ) . - ISSN 0015-3222

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
МОП-структуры -- интегральные микросхемы -- ИМС -- поверхностные состояния -- ПС -- уровень энергии напряженных связей -- старение (физика)
Аннотация: Представлена физическая модель процесса старения МОП-структуры. По результатам проведенных ускоренных испытаний найден энергетический параметр напряженной МОП-структуры - энергетический уровень напряженных связей.

Доп.точки доступа:
Булушева, М. А.; Попов, В. Д.; Протопопов, Г. А.; Скородумова, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Примеры ситуационных вопросов [Текст] // Изобретательство. - 2010. - Т. 10, N 9. - С. 41-44.

УДК

^a347.77/.78

ББК 67.404.3
Рубрики: Право
Правовая охрана интеллектуальной собственности
Кл.слова (ненормированные):
патенты -- полезная модель -- лицензионный договор -- товарные знаки -- интегральные микросхемы -- регистрация программ -- интеллектуальная собственность
Аннотация: В статье приведены примеры ситуационных вопросов по специализациям "изобретения и полезные модели", "промышленные образцы", "товарные знаки и знаки обслуживания", "наименования мест происхождения товаров", "программы для электронно-вычислительных машин, базы данных, топологии интегральных микросхем".

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Зайцев, А. А.
Развитие схемотехники фильтра контура управления для интегральных быстродействующих устройств автоматического фазирования сигналов [Текст] / А. А. Зайцев // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 10. - С. 25-28. . - Библиогр.: с. 28 (6 назв. )

УДК

^a621.373/.374

ББК 32.847
Рубрики: Радиоэлектроника
Импульсные устройства
Кл.слова (ненормированные):
автоматическое фазирование сигналов -- интегральное изодромное звено -- интегральные микросхемы -- схемотехника фильтра
Аннотация: Представлена новая реализация фильтра контура управления для быстродействующих устройств автоматического фазирования сигналов, предназначенных для полной интеграции на кристалле микросхемы. Техническим результатом предложенного решения является значительное уменьшение площади, занимаемой элементами фильтра на кристалле микросхемы.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Метрология наукоемкого производства [Текст] / А. Белоус [и др. ] // Наука и инновации. - 2011. - N 7. - С. 19-21. : 9 фот.

УДК

^a338.45

ББК 65.30
Рубрики: Экономика
Экономика промышленности в целом--Беларусь
Кл.слова (ненормированные):
наукоемкое производство -- метрология -- центры коллективного пользования -- научное оборудование -- аналитические исследования -- электронная промышленность -- полупроводниковые материалы -- интегральные микросхемы -- техническая компетентность -- стандартизация
Аннотация: Комплексные аналитические исследования на предприятиях электронной промышленности Беларуси.

Доп.точки доступа:
Белоус, Анатолий (доктор технических наук); Петлицкий, Александр (кандидат физико-математических наук); Пилипенко, Владимир; Шведов, Сергей; Белмикроанализ, государственный центр
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-20 21-26

Тематический навигатор

Статистика за 23.08.2024
Число запросов	39995
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)