Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (3)БД "Статьи" (8)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=зондовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-15 
1.


    Байбурин, Вил Бариевич (д-р физ.-мат. наук, проф.).
    Алгоритмы обработки изображений, используемые сканирующей зондовой микроскопией [Текст] / В. Б. Байбурин, Н. В. Беспалова, Ю. П. Волков // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 27. - С. 61-64. - Библиогр.: с. 64 (4 назв. )
УДК
ББК 32.99
Рубрики: Вычислительная техника
   Другие отрасли радиоэлектроники

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- сканирующая техника -- микроскопия -- зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- преобразования Фурье -- Фурье преобразования -- вейвлет-преобразования -- обработка изображений
Аннотация: Представлено описание различных способов изображения поверхностей, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены достоинства метода устранения различных искажений структуры исследуемых объектов на основе дискретного вейвлет-преобразования.


Доп.точки доступа:
Беспалова, Наталья Викторовна; Волков, Юрий Петрович (проф.)

Найти похожие

2.


    Синицына, О.
    Анализ и распознавание графической информации в наноскопии [Текст] / О. Синицына, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 3. - С. 14-20 : ил.: 7 рис. - Библиогр.: с. 20 (14 назв. )
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовые изображения -- программное обеспечение
Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать поверхности твердых тел с разрешением вплоть до атомного.


Доп.точки доступа:
Филонов, А.; Яминский, И.

Найти похожие

3.


    Рехвиашвили, С. Ш. (канд. физ. -мат. наук).
    Акустическая эмиссия при взаимодействии зонда с поверхностью металлов [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили, З. В. Шомахов, А. М. Кармоков // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 4. - С. 19-22. - Библиогр.: с. 22 (14 назв. ) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 22.32
Рубрики: Физика
   Акустика в целом

Кл.слова (ненормированные):
акустическая эмиссия -- скорость звука -- металлы -- зондовая микроскопия
Аннотация: Экспериментально исследована акустическая эмиссия, возникающая при ударе твердого зонда о поверхность металлов. Акустическая эмиссия при взаимодействии зонда с поверхностью может использоваться для диагностики вязкоупругих свойств материалов, а также в атомно-силовом микроскопе при построении изображенной поверхности.


Доп.точки доступа:
Шомахов, З. В.; Кармоков, А. М. (д-р физ. -мат. наук)

Найти похожие

4.


    Раткин, Л. С (канд. техн. наук).
    Проблемы применения микро- и наносистемной техники в бионаноскопии [Текст] / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - 1813-8586, N 5. - 011 . 38-41. - Библиогр.: с. 41 (36 назв. ) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
биообъекты -- бионаноскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопия -- микромеханические биосенсоры -- наноматериалы
Аннотация: О новых достижениях в сфере сканирующей зондовой микроскопии, инновационных технологиях высокоразрешающей микроскопии и сопутствующих физико-химических методах исследования биообъектов.


Найти похожие

5.


    Потапов, А. А. (д-р хим. наук).
    Стратегия становления нанотехнологии [Текст] / А. А. Потапов // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 6. - С. 4-12. - Библиогр.: с. 12 (27 назв. ) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
электронное строение -- эволюция технологий -- нанотехнологии -- зондовая микроскопия
Аннотация: Обсуждаются вопросы теоретического обеспечения нанотехнологии. Предлагается подход к решению данной проблемы на основе создания прогностической теории электронного строения.


Найти похожие

6.


    Поляков, В. В.
    Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии [Текст] / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 9. - С. 6-10. - Библиогр.: с. 10 (10 назв. ) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
емкостная микроскопия -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующий зондовый микроскоп -- концентрация носителей -- профиль легирования
Аннотация: Предложен зондовый датчик специальной конструкции и оригинальный метод компенсации паразитной емкости для 2D-характеризации профилей легирования полупроводниковых структур с помощью методики сканирующей емкостной микроскопии (СЕМ). Разработано соответствующее устройство, реализирующее методику СЕМ.


Найти похожие

7.


    Поляков, Вячеслав Викторович.
    Оптимизация угловой апертуры лазерной системы датчика изгибов кантилевера атомно-силового микроскопа [Текст] / В. В. Поляков В. В. // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 4. - С. 87-88 : рис. - Библиогр.: с. 88 (3 назв. )
УДК
ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- регистрация изгибов -- лазеры -- уровень шума -- чувствительность -- оптические датчики
Аннотация: Проанализировано влияние угловой апертуры лазерной системы на чувствительность и шумовые характеристики оптического датчика изгибов кантилевера атомно-силового микроскопа. Предложена методика выбора оптимального значения апертуры в зависимости от природы основной составляющей шума датчика.


Найти похожие

8.


    Карташев, В. А.
    Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа [Текст] / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 10. - С. 7-10. . - Библиогр.: с. 10 (6 назв. )
УДК
ББК 22.1
Рубрики: Математика
   Общие вопросы математики

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- тунельный микроскоп -- форма отрицания иглы -- пьезосканер -- калибровочные поверхности
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра.


Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

9.


    Яминский, И.
    Самое главное в нанотехнологиях - люди [Текст] / И. Яминский ; интервью брали В. Фокин, И. Шахнович // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 8-14. : ил.: 1 фото
УДК
ББК 30.6 + 34.9
Рубрики: Техника
   Организация промышленного производства

   Приборостроение--Россия--Москва

   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующая резистивная микроскопия -- наноэлектроника -- интервью
Аннотация: Рассказывает генеральный директор научно-производственного предприятия "Центр перспективных технологий", доктор физико-математических наук, профессор И. Яминский.


Доп.точки доступа:
Фокин, В. \.\; Шахнович, И. \.\; Центр перспективных технологий
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.


   
    Формирование наночастиц магнетита в водной ионообменной реакции с избытком щелочи во внешнем постоянном магнитном поле средней величины [Текст] / Е. С. Бриков [и др. ] // Вестник Тюменского государственного университета. - 2011. - N 7. - С. 87-93. : ил., табл. - Библиогр.: с. 93 (7 назв. )
УДК
ББК 22.365 + 22.334 + 22.38
Рубрики: Физика
   Газы и жидкости

   Магнетизм

   Ядерная физика в целом

Кл.слова (ненормированные):
магнетиты -- наночастицы магнетита -- золи магнетита -- ионообменные реакции -- магнитные поля -- зондовая микроскопия -- ультразвуковое диспергирование
Аннотация: Исследование форм, размеров, магнитных свойств наночастиц золей магнетита, полученных из порошка ультразвуковым диспергированием методами атомной и магнитной зондовой микроскопии.


Доп.точки доступа:
Бриков, Е. С.; Журавский, Д. В.; Михеев, В. А.; Новиков, В. Ф.; Смирнов, И. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 1-10    11-15 
 
Статистика
за 18.08.2024
Число запросов 39555
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)