Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (92)

БД "Статьи" (247)

Труды АМГУ (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракция<.>)

Общее количество найденных документов : 146
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Сошников, И. П.
Особенности картин электронной дифракции нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных на подложках Si (100) и (111) методом молекулярно-пучковой эпитаксии [Текст] / И. П. Сошников [и др. ] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 8. - С. . 1373-1377. - Библиогр.: с. 1377 (23 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
двойникование кристаллов -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- нитевидные нанокристаллы -- фазовые переходы -- фазовые переходы вюрцит/сфалерит -- электронная дифракция
Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов на отражение проведено исследование кристаллической структуры нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках Si (111) и Si (100). Установлено, что дифракционные картины в обоих случаях содержат суперпозицию систем рефлексов, характерных для гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фаз GaAs. Показано, что при росте на Si (111) формируются нитевидные нанокристаллы с гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фазами с одной и двумя ориентациями соответственно. В случае роста на подложках Si (100) обнаружена система нитевидных нанокристаллов GaAs с кубической фазой и пятью различными ориентациями, а также гексагональной фазы с восемью ориентациями в плоскостях подложки типа (110). Проявление двойственной кристаллической структуры в нитевидных нанокристаллах объясняется фазовыми переходами вюрцит-сфалерит и/или двойникованием кристаллов.

Доп.точки доступа:
Цырлин, Г. Э.; Тонких, А. А.; Неведомский, В. Н.; Самсоненко, Ю. Б.; Устинов, В. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Юлаев, Александр Николаевич (студент).
Особенности коллинеарного анизотропного акустооптического взаимодействия в Х-срезе ниобата лития [Текст] / А. Н. Юлаев, Ю. А. Зюрюкин // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 27. - С. 24-29. - Библиогр.: с. 29 (2 назв. )

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика
Кл.слова (ненормированные):
дифракция света -- анизотропная дифракция -- акустооптические взаимодействия -- ультразвуковые колебания -- оптические волны -- акустические волны -- ниобат лития -- кристаллы ниобата лития
Аннотация: Исследованы характеристики коллинеарно анизотропной брэгговской дифракции света на ультразвуке вдоль x-направления в кристалле ниобата лития. Описано новое явление - невзаимность коллинеарной дифракции, заключающаяся в несовпадении оптимальных частот дифракции акустической либо оптической волн при изменении направления распространения ультразвука или света на противоположное.

Доп.точки доступа:
Зюрюкин, Юрий Анатольевич (д-р физ.-мат. наук, проф.)

Найти похожие

Влияние высокого давления и химического замещения на кристаллическую структуру и магнитное состояние R[\2]Fe[17-x]Si[x]\ (R = Lu, Y; x =0, 1. 7) [Текст] / Д. П. Козленко [и др. ] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 86, вып: вып. 9. - С. 675-680

УДК

^a53

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
высокое давление -- химическое замещение -- нейтронная дифракция -- интерметаллические соединения -- кристаллическая структура -- магнитное состояние
Аннотация: Методом нейтронной дифракции исследовано влияние высокого давления на кристаллическую структуру интерметаллических соединений R[2]Fe[17-x]Si[x] (R = Lu, Y; x =0, 1. 7). Проведен анализ взаимосвязи между изменениями структурных параметров и магнитных свойств при воздействии высокого давления, а также химического замещения атомов Fe на Si в рамках моделей локализованных моментов и спиновых флуктуаций. Установлено, что экспериментально наблюдаемое увеличение температуры Кюри при химическом замещении, а также ее уменьшение при воздействии высокого давления более адекватно описываются в модели спиновых флуктуаций. Обсуждаются возможные причины подавления коллинеарного ферромагнитного состояния и существования неколлинеарного антиферромагнитного состояния в R[2]Fe[17-x]Si[x] под давлением на основе оценок разницы минимумов полной энергии этих состояний.

Доп.точки доступа:
Козленко, Д. П.; Воронин, В. И.; Глазков, В. П.; Савенко, Б. Н.

Найти похожие

Столина, А. Е.
Гранулометрический анализ порошка кремния [Текст] / А. Е. Столина, Н. В. Пименова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 31-34. - Библиогр.: с. 5 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a539.2

^a544.77

^a681.7

ББК 22.37 + 22.341 + 24.66
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики
   Химия
   Грубодисперсные системы
Кл.слова (ненормированные):
гранулометрический анализ -- порошок кремния -- оптическая микроскопия -- микроскопия -- диспергирование порошка -- метод лазерной дифракции -- лазерная дифракция -- дифракция -- порошковые материалы -- металлографический метод -- фотоседиментационный анализ
Аннотация: Представлены результаты определения гранулометрического состава порошка кремния методом оптической микроскопии.

Доп.точки доступа:
Пименова, Н. В.

Найти похожие

Давыдов, Д. А.
Моноклинный упорядоченный субоксид ванадия V[14]O[6] [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 1. - С. 147-154. - Библиогр.: с. 154 (22 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
моноклинный субоксид ванадия -- рентгеновская дифракция -- субоксид ванадия -- симметрийный анализ -- подрешетки
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и симметрийного анализа изучена моноклинная (пр. гр. C2/m) сверхструктура V[14]O[6], образующаяся при атомно-вакансионном упорядочении тетрагонального твердого раствора кислорода в ванадии. Моноклинный субоксид V[14]O[6] наблюдается в синтезированных при 1770К образцах оксида ванадия VO[0. 57], VO[0. 81] и VO[0. 86] и в образцах VO[y] (y больше или равно 0. 87, y меньше или равно 0. 98), после синтеза дополнительно отожженных при температуре 1470 К. Установлено, что канал фазового перехода беспорядок-порядок, связанный с образованием моноклинного субоксида V[14]O[6], включает шесть сверструктурных векторов, принадлежащих трем нелифшицевским звездам одного типа {k[i]}. Рассчитана функция распределения атомов кислорода в моноклинной сверхструктуре V[14]O[6]. Показано, что смещения атомов V искажают объемно центрированную тетрагональную металлическую подрешетку, подготавливая формирование гранецентрированной кубической подрешетки и преход от субоксида V[14]O[6] к кубическому монооксиду ванадия со структурой B1.

Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.

Найти похожие

Давыдов, Д. А.
Нейтронография дефектного монооксида ванадия, близкого к эквиатомному составу VO [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев, А. А. Ремпель // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 4. - С. 218-223

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
монооксид ванадия -- VO[y] -- структурные вакансии -- нейтронография -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Методами структурной нейтронографии и рентгеновской дифракции изучена дефектная структура закаленных от температуры синтеза и отожженных при низкой температуре монооксидов ванадия VO[y] (0. 90 меньше равно y меньше равно 0. 97), по составу близких к эквиатомному монооксиду VO[1. 0].

Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.; Ремпель, А. А.

Найти похожие

Супрун, С. П.
Формирование гетерограницы GaAs-Ge в присутствии окисла [Текст] / С. П. Супрун, Е. В. Федосенко // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 2. - С. 94-97

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
GaAs-Ge -- Ge -- Ga[2]O -- гетерограница -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- дифракция быстрых электронов
Аннотация: Приведены результаты исследования методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и дифракции быстрых электронов на отражение процесса формирования гетерограницы GaAs-Ge при условии неполного удаления всех окисных фаз с поверхности подложки GaAs. Показано, что совмещение процессов окончательной десорбции окисла Ga[2]O и осаждения Ge позволяет предотвратить испарение мышьяка и нарушение стехиометрии в области границы раздела.

Доп.точки доступа:
Федосенко, Е. В.

Найти похожие

Медведский, А. Л.
Задача о дифракции нестационарных упругих волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере [Текст] = Non-steady elastic waves diffracion on non-homogeneous transversally isotropic spheres / Медведский А. Л. // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 3. - С. 473-489 : 9 ил., табл. - Библиогр.: с. 489 (6 назв. ) . - ISSN 1029-6670

УДК

^a539.3/.6

ББК 30.121
Рубрики: Техника
Сопротивление материалов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция упругих волн -- нестационарные упругие волны -- задачи дифракции -- схема Куранта-Изаксона-Риса -- Куранта-Изаксона-Риса схема
Аннотация: Рассмотрена задача о дифракции упругих нестационарных волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере.

Найти похожие

Кластеры палладия в образцах нанопористого углерода: структурные свойства [Текст] / А. М. Данишевский [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 604-608. - Библиогр.: с. 607-608 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
кластеры палладия -- нанопористый углерод -- рентгеновская дифракция -- электронная дифракция -- просвечивающий электронный микроскоп -- метод электронного спинового резонанса -- электронный спиновой резонанс
Аннотация: Проведены структурные исследования образцов нанопористого углерода, приготовленных из карбидов кремния и бора, с кластерами палладия, введенными в них. Рентгеновская и электронная дифракция показывает, что основная масса кластеров Pd имеет кубическую гранецентрированную решетку. Проведены измерения малоуглового рентгеновского рассеяния. При определенных допущениях анализ их позволил определить размеры кластеров металла. Размеры кластеров, полученных на снимках в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ), оказались не слишком близки к ним и находились в диапазоне 4-14 nm. По-видимому, различие связано с локальным характером измерений в ПЭМ. Помимо относительно крупных кластеров приведенного диапазона в образцах наблюдаются очень мелкие кластеры, меньшие размера одной микропоры. Их особенно много в C (SiC) B : Pd, где их размеры оказались в пределах 0. 5-0. 7 nm. В C (B[4]C) B : Pd малых кластеров существенно меньше, и их размеры несколько больше: 1. 2-1. 6 nm. Обсуждаются возможные причины ферромагнетизма, наблюдавшегося в указанных образцах. Высказано предположение, что магнетизм может быть связан с малыми кластерами, которые к тому же не имеют кубической симметрии.

Доп.точки доступа:
Данишевский, А. М.; Кютт, Р. Н.; Ситникова, А. А.; Шанина, Б. Д.; Курдюков, Д. А.; Гордеев, С. К.

Найти похожие

10.

Фазовые соотношения и форма кривых рентгеновской дифракции от гетероструктур с квантовыми ямами [Текст] / М. А. Чуев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 3. - С. 204-209

УДК

^a535.2

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- гетероструктуры с квантовыми ямами -- дифракционное рассеяние -- фазовые соотношения
Аннотация: Проведен качественный анализ формирования интерференционной картины на кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от гетероструктур с квантовыми ямами. Показано, что помимо хорошо известного эффекта, связанного с дополнительным сдвигом фазы в амплитудах дифракционного рассеяния покрывающего слоя и подложки за счет небольшого смещения атомных слоев в квантовой яме, форма кривой отражения существенным образом зависит от толщины квантовой ямы, отражая специфические фазовые соотношения в интегральной амплитуде отражения. В рамках анализа были получены простые аналитические выражения, которые позволяют не только описать тонкие детали интерференционной картины на кривой отражения, но и приближенно оценить значения наиболее значимых параметров реально выращенной гетероструктуры, которые определяют наиболее адекватную стартовую модель для дальнейшего анализа на основе общих формул динамической дифракции.

Доп.точки доступа:
Чуев, М. А.; Пашаев, Э. М.; Ковальчук, М. В.; Квардаков, В. В.

Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Тематический навигатор

Статистика за 04.07.2024
Число запросов	77867
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)