Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (8)

БД "Статьи" (100)

Выпускные квалификационные работы (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракции<.>)

Общее количество найденных документов : 92
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Дубинин, С. Ф.
Наноразмерные деформации решетки в кристалле ZnSe, легированном 3d-элементами [Текст] / С. Ф. Дубинин [и др. ] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 7. - С. 1177-1182. - Библиогр.: с. 1182 (16 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
диффузное рассеяние -- метод дифракции тепловых нейтронов -- наноразмерные деформации решетки -- наноразмерные сдвиговые смещения -- полупроводниковые кристаллы -- эффект Ян-Теллера -- Ян-Теллера эффект
Аннотация: Методом дифракции тепловых нейтронов впервые исследовалось структурное состояние полупроводниковых кристаллов Zn[1-x]V{2+}[x]Se (x=0. 0018) и Zn[1-x]Cr{2+}[x]Se (x=0. 0006) при 300 и 120 K. Обнаружено, что дифракционные картины кристаллов содержат области диффузного рассеяния вблизи брэгговских отражений исходной кубической решетки. Результаты эксперимента обсуждаются во взаимосвязи с ранее полученной информацией по дифракции нейтронов и распространению ультразвука в соединениях Zn[1-x]Ni{2+}[x]Se (x=0. 0025), Zn[1-x]Cr{2+}[x]Se (x=0. 0029). Показано, что диффузное рассеяние обусловлено наноразмерными сдвиговыми деформациями решетки ZnSe, типы которых определяют ян-теллеровские 3d-ионы.

Доп.точки доступа:
Соколов, В. И.; Теплоухов, С. Г.; Пархоменко, В. Д.; Гудков, В. В.; Лончаков, А. Т.; Жевстовских, И. В.; Груздев, Н. Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Сошников, И. П.
Особенности картин электронной дифракции нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных на подложках Si (100) и (111) методом молекулярно-пучковой эпитаксии [Текст] / И. П. Сошников [и др. ] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 8. - С. . 1373-1377. - Библиогр.: с. 1377 (23 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
двойникование кристаллов -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- нитевидные нанокристаллы -- фазовые переходы -- фазовые переходы вюрцит/сфалерит -- электронная дифракция
Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов на отражение проведено исследование кристаллической структуры нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках Si (111) и Si (100). Установлено, что дифракционные картины в обоих случаях содержат суперпозицию систем рефлексов, характерных для гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фаз GaAs. Показано, что при росте на Si (111) формируются нитевидные нанокристаллы с гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фазами с одной и двумя ориентациями соответственно. В случае роста на подложках Si (100) обнаружена система нитевидных нанокристаллов GaAs с кубической фазой и пятью различными ориентациями, а также гексагональной фазы с восемью ориентациями в плоскостях подложки типа (110). Проявление двойственной кристаллической структуры в нитевидных нанокристаллах объясняется фазовыми переходами вюрцит-сфалерит и/или двойникованием кристаллов.

Доп.точки доступа:
Цырлин, Г. Э.; Тонких, А. А.; Неведомский, В. Н.; Самсоненко, Ю. Б.; Устинов, В. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Столина, А. Е.
Гранулометрический анализ порошка кремния [Текст] / А. Е. Столина, Н. В. Пименова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 31-34. - Библиогр.: с. 5 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a539.2

^a544.77

^a681.7

ББК 22.37 + 22.341 + 24.66
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики
   Химия
   Грубодисперсные системы
Кл.слова (ненормированные):
гранулометрический анализ -- порошок кремния -- оптическая микроскопия -- микроскопия -- диспергирование порошка -- метод лазерной дифракции -- лазерная дифракция -- дифракция -- порошковые материалы -- металлографический метод -- фотоседиментационный анализ
Аннотация: Представлены результаты определения гранулометрического состава порошка кремния методом оптической микроскопии.

Доп.точки доступа:
Пименова, Н. В.

Найти похожие

Веттегрень, В. И.
Напряжения в полимерных кристаллах, вызываемые внутренней атомно-молекулярной динамикой [Текст] / В. И. Веттегрень, А. И. Слуцкер, В. Б. Кулик // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 1. - С. 198-205. - Библиогр.: с. 205 (15 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
полимерные кристаллы -- метод рамановской спектроскопии -- метод рентгеновской дифракции -- полимерные молекулы -- динамические растягивающие напряжения -- межмолекулярные связи -- аморфно-кристаллические полимеры
Аннотация: Для кристаллов полиэтилена и полиамида-6 в области 5-500 K методами рамановской спектроскопии и рентгеновской дифракции измерены температурные зависимости динамических растягивающих напряжений на химических связях скелета цепных молекул и связях между молекулами. Установлена связь динамических напряжений с квантовыми характеристиками вибрационной динамики полимерных молекул. Определены вклады в напряжения от нулевых и тепловых колебаний молекул. Найдено, что динамические растягивающие напряжения на межмолекулярных связях при температурах плавления кристаллов приближаются к разрывной прочности этих связей.

Доп.точки доступа:
Слуцкер, А. И.; Кулик, В. Б.

Найти похожие

Медведский, А. Л.
Задача о дифракции нестационарных упругих волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере [Текст] = Non-steady elastic waves diffracion on non-homogeneous transversally isotropic spheres / Медведский А. Л. // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 3. - С. 473-489 : 9 ил., табл. - Библиогр.: с. 489 (6 назв. ) . - ISSN 1029-6670

УДК

^a539.3/.6

ББК 30.121
Рубрики: Техника
Сопротивление материалов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция упругих волн -- нестационарные упругие волны -- задачи дифракции -- схема Куранта-Изаксона-Риса -- Куранта-Изаксона-Риса схема
Аннотация: Рассмотрена задача о дифракции упругих нестационарных волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере.

Найти похожие

Магнитные резонансные и тепловые свойства кристаллов Fe[0. 27]mn[0. 73]S [Текст] / Г. М. Абрамова [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 2. - С. 302-304. - Библиогр.: с. 304 (6 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
моносульфид марганца -- магнитные переходы -- антиферромагнитные полупроводники -- метод порошковой дифракции нейтронов -- ядерный рефлекс
Аннотация: Результаты исследования монокристаллов Fe[0. 27]mn[0. 73]S. Обнаружен магнитный переход в области 197 K, который сопровождается аномалиями тепловых, электрических и резонансных свойств.

Доп.точки доступа:
Абрамова, Г. М.; Петраковский, Г. А.; Боем, М.; Воротынов, А. М.; Карташев, А. В.; Великанов, Д. А.; Соколов, В. В.; Пичугин, А. Ю.

Найти похожие

Мессбауэровские и рентгеновские исследования динамики фазовых превращений и подавления полиморфизма в соединении LaMn[1-x]Fe[x]O[3+дельта] (x = 0. 015 - 0. 5) [Текст] / В. Д. Седых [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 2. - С. 351-358. - Библиогр.: с. 358 (14 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
фазовые превращения -- подавление полиморфизма -- манганит лантана -- примесь железа -- полиморфные превращения манганита -- метод рентгеновской дифракции -- метод мессбауровской спектроскопии
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и мессбауэровской спектроскопии исследовано влияние примеси железа на структурные превращения и подавление полиморфизма в соединении LaMn[1-x]Fe[x]O[3+дельта] (x = 0. 015 - 0. 5). Показано, что примесь железа активно влияет на полиморфные превращения манганита. При малом содержании примеси Fe (до 10 at. %) в пределах фазы P nma II происходит локальное формирование фазы P nma I. Обсуждаются механизмы подавления полиморфизма.

Доп.точки доступа:
Седых, В. Д.; Шехтман, В. Ш.; Дубовицкий, А. В.; Зверькова, И. И.; Кулаков, В. И.

Найти похожие

Ренгенодифракционные исследования особенностей атомной структуры сплава Fe-Si в альфа-области фазовой диаграммы [Текст] / Н. В. Ершов [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 417-422. - Библиогр.: с. 422 (15 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
железокремнистые сплавы -- метод рентгеновской дифракции -- неупорядоченный твердый раствор -- температура разупорядочения -- разупорядочивающее воздействие
Аннотация: Атомная структура сплавов Fe-Si с концентрацией кремния 5-8 at. % (альфа область фазовой диаграммы) исследовалась методом рентгеновской дифракции. Выяснено влияние закалки после отжига при температуре разупорядочения 850 градусов Цельсия на структурное состояние сплавов. Показано, что в закаленных образцах имеет место ближнее упорядочение: при 5-6 at. %Si локальный порядок B2-типа, а при 8 at. %Si дополнительно появляются кластеры D0[3]-фазы. Установлена атомная структура B2-кластеров и их ближайшего окружения.

Доп.точки доступа:
Ершов, Н. В.; Черненков, Ю. П.; Лукшина, В. А.; Федоров, В. И.

Найти похожие

Индуцированный давлением фазовый переход в кубическом кристалле ScF[3] [Текст] / К. С. Александров [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 4. - С. 764-770. - Библиогр.: с. 770 (22 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
фазовые переходы -- спектры комбинационного рассеяния -- метод дифракции синхротронного излучения -- метод спектроскопии комбинационного рассеяния -- метод поляризационной микроскопии
Аннотация: Методами дифракции синхротронного излучения, поляризационной микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния исследованы индуцированные давлением фазовые переходы в кристалле ScF[3]. Фаза, существующая в области 0. 6-3. 0 GPa, является оптически анизотропной, ее структура описывается пространственной группой R3[c], Z=2, переход связан с разворотом октаэдров ScF[6] вокруг оси третьего порядка. Определена зависимость параметров структуры и угла поворота от давления. Число линий спектра комбинационного рассеяния соответствует ожидаемому для данной структуры, выше фазового перехода наблюдается восстановление мягких мод. При 3. 0 GPa наблюдается переход в новую фазу, которая остается метастабильной при понижении давления. Полученные результаты интерпретируются с использованием ab initio метода в рамках подхода Гордона--Кима.

Доп.точки доступа:
Александров, К. С.; Воронов, В. Н.; Втюрин, А. Н.; Крылов, А. С.; Молокеев, М. С.; Павловский, М. С.; Горяйнов, С. В.; Лихачева, А. Н.; Анчаров, А. И.

Найти похожие

10.

Фазовые соотношения и форма кривых рентгеновской дифракции от гетероструктур с квантовыми ямами [Текст] / М. А. Чуев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 3. - С. 204-209

УДК

^a535.2

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- гетероструктуры с квантовыми ямами -- дифракционное рассеяние -- фазовые соотношения
Аннотация: Проведен качественный анализ формирования интерференционной картины на кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от гетероструктур с квантовыми ямами. Показано, что помимо хорошо известного эффекта, связанного с дополнительным сдвигом фазы в амплитудах дифракционного рассеяния покрывающего слоя и подложки за счет небольшого смещения атомных слоев в квантовой яме, форма кривой отражения существенным образом зависит от толщины квантовой ямы, отражая специфические фазовые соотношения в интегральной амплитуде отражения. В рамках анализа были получены простые аналитические выражения, которые позволяют не только описать тонкие детали интерференционной картины на кривой отражения, но и приближенно оценить значения наиболее значимых параметров реально выращенной гетероструктуры, которые определяют наиболее адекватную стартовую модель для дальнейшего анализа на основе общих формул динамической дифракции.

Доп.точки доступа:
Чуев, М. А.; Пашаев, Э. М.; Ковальчук, М. В.; Квардаков, В. В.

Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Тематический навигатор

Статистика за 01.08.2024
Число запросов	24383
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)