Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=волноводная спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Гапоненко, Сергей.
    Нанофотоника: от междисциплинарных исследований к новым технологиям [Текст] / С. Гапоненко // Наука и инновации. - 2012. - № 11. - С. 9-11. - Библиогр.: с. 11 (7 назв. ) . - ISSN 1818-9857
УДК
^a535.2/.3
^a001.89
ББК 22.343 + 72.4
Рубрики: Физика
   Физическая оптика
   Наука. Науковедение
   Организация науки--Беларусь
Кл.слова (ненормированные):
нанофотоника -- междисциплинарные исследования -- новые технологии -- научные исследования -- наноструктуры -- нанотехнологии -- белорусские ученые -- оптические свойства -- полупроводниковые нанокристаллы -- коллоидные кристаллы -- фотонные кристаллы -- металло-диэлектрические наноструктуры -- научные открытия -- биомедицинские исследования -- волноводная спектроскопия
Аннотация: Основные направления исследований по нанофотонике белорусскими учеными.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
2.


   
    О выборе диапазонов измерения отражательной способности призмы связи при волноводной спектроскопии тонких пленок [Текст] / А. Б. Сотский [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 4. - С. 465-469. - Библиогр.: c. 469 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
^a621.383.4
ББК 32.854
Рубрики: Радиоэлектроника
   Фотоэлектрические приборы
Кл.слова (ненормированные):
волноводная спектроскопия -- метод наименьших квадратов -- обратные оптические задачи -- отражательная способность -- призмы связи -- тонкие пленки
Аннотация: Предложен критерий оптимального выбора диапазонов измерений отражательной способности призмы связи, основанный на минимизации погрешностей восстановления параметров тонких пленок методом наименьших квадратов. Эффективность критерия продемонстрирована на примере решения обратной оптической задачи для пленки SiO[x] нанесенной на кремниевую подложку.


Доп.точки доступа:
Сотский, А. Б.; Штейнгарт, Л. М.; Парашков, С. О.; Сотская, Л. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 06.09.2024
Число запросов 64064
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)