Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (6)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовые микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-16 
1.


    Устинов, К. Б.
    Об уточнении граничных условий для балочной модели кантилевера атомно-силового микроскопа и их влиянии на интерпретацию результатов измерений [Текст] / К. Б. Устинов // Известия РАН. Механика твердого тела. - 2008. - N 3. - С. 182-188. - Библиогр.: с. 188 (6 назв. )
УДК
ББК 22.251
Рубрики: Механика
   Механика твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
балочные модели -- атомно-силовые микроскопы -- кантилеверы -- модуль Юнга -- Юнга модуль -- численное определение -- методы конечные элементы -- коэффициенты Пуассона -- Пуассона коэффициенты
Аннотация: Исследовано влияние граничных условий балочной модели кантилевера атомно-силовые микроскопа на результаты вычислений.


Найти похожие

2.


   
    Исследование рельефа поверхности и доменной структуры монокристаллов R (Co, Cu) 5 методами атомно-силовой микроскопии [Текст] / Ю. В. Кузнецова [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2007. - N 6 (Физика). - С. 42-50. - Библиогр.: с. 50 (4 назв. )
УДК
ББК 22.334
Рубрики: Физика
   Магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- редкоземельные интерметаллиды -- атомно-силовые микроскопы -- сплавы -- атомно-силовая микроскопия
Аннотация: Исследование рельефа поверхности и доменной структуры ряда редкоземельных интерметаллидов методами сканирующей зондовой микроскопии.


Доп.точки доступа:
Кузнецова, Ю. В.; Супонев, Н. П.; Дегтева, О. Б.; Калинкина, Е. В.

Найти похожие

3.


   
    Экспериментальное и численное моделирование эластомерных композитов путем исследования нанослоев полиизопрена на углеродной поверхности [Текст] / Морозов И. А. [и др. ] // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 1. - С. 3-15 : 10 ил. - Библиогр.: с. 14-15 (28 назв. ) . - ISSN 1029-6670
УДК
ББК 35.711 + 22.18
Рубрики: Химическая технология
   Полимеры по видам структуры

   Математика

   Исследование операций

Кл.слова (ненормированные):
эластомерные композиты -- нанопленки -- атомно-силовые микроскопы -- сила Ван-дер-Ваальса -- Ван-дер-Ваальса сила -- полимеры -- полиизопрен на углеродной поверхности -- полиизопрен -- наполненные эластомеры -- эластомеры -- композиционные материалы -- моделирование эластомерных композитов -- нанослои полиизопрена
Аннотация: Представлена методика изготовления, экспериментального исследования и численного моделирования нанопленок полимера на углеродистой поверхности с помощью атомно-силового микроскопа.


Доп.точки доступа:
Морозов, И. А. (Институт механики сплошных сред УрО РАН); Гаришин, О. К.; Володин, Ф. В.; Кондюрин, А. В.; Лебедев, С. Н.

Найти похожие

4.


    Гольдштейн, Р. В.
    О некоторых особенностях механического поведения кантилеверов атомно-силовых микроскопов [Текст] / Р. В. Гольдштейн, В. А. Городцов, К. Б. Устинов // Инженерная физика. - 2009. - N 4. - С. 19-23
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
консоль -- кантилеверы -- атомно-силовые микроскопы -- упругость -- механические элементы
Аннотация: Представления о структуре и работе АСМ опираются обычно на идеализированные модели составляющих элементов. Например, в качестве главного механического элемента рабочего органа АСМ - кантилевера рассматривается однородная консоль прямоугольного сечения с жесткой заделкой. В настоящей работе рассматриваются два уточнения механической модели работы кантилевера. Одно уточнение упрощенных представлений касается учета изменений в распределении массы и жесткости кантилеверов по их длине. Подобные изменения из-за покрытий, несовершенства технологии изготовления и т. п. играют большую роль, прежде всего, при динамическом режиме работы АСМ [1, 2]. Другое уточнение затрагивает учет подвижности заделки кантилеверов, упругость консоли и держателя консоли. В обоих случаях рассматривается вклад соответствующих параметров в изменение статических и динамических характеристик АСМ.


Доп.точки доступа:
Городцов, В. А.; Устинов, К. Б.

Найти похожие

5.


   
    Кантилеверные наносенсоры: возможности и применения [Текст] / Т. Ким [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 34-37 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 37 (10 назв. )
УДК
ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
кантилеверные наносенсоры -- атомные весы -- атомно-силовые микроскопы -- АСМ -- наночастицы
Аннотация: В весах для измерения массы хорошо работает геометрический принцип. Чем миниатюрнее весы, тем меньше массы можно взвешивать.


Доп.точки доступа:
Ким, Т.; Ванг, К.; Киселев, Г.; Яминский, И.

Найти похожие

6.


   
    Атомно-силовая микроскопия вирусов [Текст] / М. Архипенко [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 38 : ил.: 2 рис. - Библиогр.: с. 38 (3 назв. )
УДК
ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- силовая спектроскопия -- методы изучения вирусов -- вирусные частицы
Аннотация: Атомно-силовая микроскопия является основным методом изучения механических свойств вирусных частиц - жесткости, прочности и устойчивости к внешним воздействиям.


Доп.точки доступа:
Архипенко, М.; Дубровин, Е.; Карпова, О.; Сушко, А.; Яминский, И.; Атабеков, И.

Найти похожие

7.


    Крапивин, В. Ф. (доктор физико-математических наук; профессор).
    Нанотехнологии и их применение [Текст] = Nanotechnologies and their application / В. Ф. Крапивин, Ж. И. Потапов, В. Ю. Солдатов // Экономика природопользования. - 2010. - N 4. - С. 10-34. . - Библиогр.: с. 29-34 (51 назв. )
УДК
ББК 72
Рубрики: Наука. Науковедение
   Общие вопросы науки--Россия--США--Швеция; Япония; Германия, 21 в. нач.

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- нанотехнологии в электронике -- электроника -- наноэлектроника -- нанотехнологии в медицине -- наномедицина -- бионанотехнологии -- нанотехнологии в энергетике -- энергетика -- ядерная энергетика -- нанотехнологии в лесном хозяйстве -- лесное хозяйство -- нанотехнологии в охране окружающей среды -- охрана окружающей среды -- информационно-измерительные системы -- спектральные измерения -- оптика -- оптические приборы -- популяризационно-оптические приборы -- хроматография -- водная среда -- водные растворы -- спектроэллипсометрия -- спектрометрия -- эллипсометрия -- спектральные образы -- природные иерархические структуры -- иерархические структуры -- природно-антропогенные системы -- антропогенные системы -- экологический мониторинг -- адаптивные идентификаторы -- идентификаторы -- экспертные системы -- спектрополяриметры -- микроэлектромеханические системы -- электромеханические системы -- зондовая нанотехнология -- зондовые микроскопы -- микроскопы -- туннельные микроскопы -- углеродные нанотрубки -- нанотрубки -- атомно-силовые микроскопы -- углеродная электроника -- магнитная память -- нанороботы -- молекулярные материалы -- зарубежный опыт
Аннотация: Дается обзор отечественных и зарубежных исследований в области нанотехнологий и их применения в различных областях науки, техники и хозяйственной деятельности. Рассмотрены достижения по применению нанотехнологий в электронике, медицине, лесном хозяйстве, спектроэллипсометрии, энергетике и других областях. Отмечены успехи и недостатки проведенных исследований. Обсуждены перспективы применения нанотехнологий в решении многих антропогенных проблем.


Доп.точки доступа:
Потапов, И. И. (кандидат технических наук); Солдатов, В. Ю.; Институт радиотехники и электроники РАН; РАНРоссийская корпорация нанотехнологий РОСНАНО; РОСНАНО; NT-MDT, компания; Компания "NT-MDT"; Нанотехнологии в электронике, центр; Центр "Нанотехнологии в электронике"; Нанотехнология и молекулярные материалы, центр; Центр "Нанотехнология и молекулярные материалы"
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

8.


   
    Физическая модель поведения полимерных наноструктурированных композитов при наноиндентировании [Текст] = Physical model of polymer nanostructural composites behavior in nanoindentation experiments / Яновский Ю. Г. [и др. ] // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2010. - Т. 16, N 3. - С. 445-453. : ил. - Библиогр.: с. 452-453 (16 назв. )
УДК
ББК 35.71 + 35.710.1 + 35.72
Рубрики: Химическая технология
   Высокомолекулярные соединения в целом

   Получение синтетических полимеров

   Каучук и резина

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- композиты -- композиционные материалы -- композитные материалы -- нанонаполнители -- наноиндентирование -- микроиндентирование -- индентирование -- масштабные эффекты -- механические свойства -- нанотехнологии -- наполнители композиционных материалов -- наполнители композитных материалов -- наполнители композитов -- эластомеры -- эластомерные композиционные материалы -- эластомерные композиты -- эластомерные композитные материалы -- нанодеформирование -- микродеформирование -- деформирование -- эксперименты -- атомно-силовые микроскопы -- инденторы -- индентор Берковича -- Берковича индентор -- коэффициент Пуассона -- Пуассона коэффициент
Аннотация: Обсуждаются возможные причины проявления масштабного эффекта при испытании наноструктурированных эластомерных композиционных материалов методом наноиндентирования в рамках физических концепций ангармонизма и флуктуаций плотности. Анализируется масштабный эффект по изменению зависимости модуля упругости от величины деформации. В частности показано, что переход от нанодеформирования к микродеформированию (или от наноиндентирования к микроиндентированию) наблюдается тогда, когда объем деформированного в процессе эксперимента материала превысит совокупный объем двух агрегатов нанонаполнителя в среде.


Доп.точки доступа:
Яновский, Юрий Григорьевич (доктор технических наук); Козлов, Георгий Владимирович (научный сотрудник); Корнев, Юрий Витальевич (кандидат технических наук); Бойко, Олег Владимирович (старший лаборант); Карнет, Юлия Николаевна (кандидат физико-математических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

9.


    Швец, В.
    Создание структур из оксида на поверхности графита [Текст] / В. Швец // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 36-38. : ил.: 6 рис. - Библиогр.: с. 38 (5 назв. )
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
графит -- литография -- ЛАО -- локальное анодное окисление -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы
Аннотация: Суть метода - к зонду прикладывается напряжение, отрицательное, относительно подложки.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.


   
    Дистанционное управление нанотехнологическим оборудование [Текст] / Г. Мешков [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 46-49. : ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 49 (3 назв. )
УДК
ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
СТМ -- сканирующие туннельные микроскопы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- зондовая интернет-микроскопия
Аннотация: Сканирующий туннельный микроскоп стал родоначальником большого семейства сканирующих зондовых микроскопов.


Доп.точки доступа:
Мешков, Г.; Рахимова, А.; Филонов, А.; Яминский, Д.; Яминский, И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 1-10    11-16 
 
Статистика
за 31.07.2024
Число запросов 52474
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)