Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=СЗМ<.>)

Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-12

Мешков, Г.
Новые разработки в области зондовой литографии углеродных материалов [Текст] / Г. Мешков, О. Синицына, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 2. - С. 28-30 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 30 (6 назв. )

УДК

^a658

ББК 30.6
Рубрики: Техника
Организация промышленного производства
Кл.слова (ненормированные):
углеродные наноструктуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовая литография -- локальное анодное окисление -- ЛАО
Аннотация: Для успешного развития углеродной наноэлектроники требуется разработка прецизионных методов формирования углеродных наноструктур.

Доп.точки доступа:
Синицына, О.; Яминский, И.

Найти похожие

Синицына, О.
Анализ и распознавание графической информации в наноскопии [Текст] / О. Синицына, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 3. - С. 14-20 : ил.: 7 рис. - Библиогр.: с. 20 (14 назв. )

УДК

^a621.37/.39

ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
Радиоэлектроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовые изображения -- программное обеспечение
Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать поверхности твердых тел с разрешением вплоть до атомного.

Доп.точки доступа:
Филонов, А.; Яминский, И.

Найти похожие

Яминский, Д.
Эталон нанометра [Текст] / Д. Яминский, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 44-45 : ил.: 2 рис. - Библиогр.: с. 45 (4 назв. )

УДК

^a389

ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- метрология -- нанометр -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Развитие современной наноиндустрии не может происходить без существования прочного нанометрологического фундамента.

Доп.точки доступа:
Яминский, И.

Найти похожие

Быков, В.
Существует ли цвет в наномире? О возможностях оптических методов за пределом дифракции [Текст] / В. Быков // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 50-52 : ил.: 8 рис.

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- оптические явления -- нанометры -- цветоведение
Аннотация: Оптические свойства вещества в видимом диапазоне длин волн можно изучать с пространственным разрешением в десятки нанометров.

Найти похожие

Быков, В.
Российские приборы побеждают в престижном американском конкурсе [Текст] / В. Быков // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 30-32 : ил.: 5 рис.

УДК

^a681.2

ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
Приборостроение в целом
Кл.слова (ненормированные):
СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- СОЛВЕР -- зондовые нанолаборатории -- ИНТЕГРА
Аннотация: Процесс возрождения отечественной высокотехнологичной индустрии набирает обороты.

Найти похожие

Дистанционное управление нанотехнологическим оборудование [Текст] / Г. Мешков [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 46-49. : ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 49 (3 назв. )

УДК

^a681.2

ББК 34.9
Рубрики: Приборостроение
Приборостроение в целом
Кл.слова (ненормированные):
СТМ -- сканирующие туннельные микроскопы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- зондовая интернет-микроскопия
Аннотация: Сканирующий туннельный микроскоп стал родоначальником большого семейства сканирующих зондовых микроскопов.

Доп.точки доступа:
Мешков, Г.; Рахимова, А.; Филонов, А.; Яминский, Д.; Яминский, И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Газарова, Е.
Платформа наноэдьюкатор [Текст] / Е. Газарова // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 58-61. : ил.: 5 рис.

УДК

^a681.2

^a378

^a371.69:004.3

ББК 34.9 + 74.58 + 74с
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом
   Образование. Педагогика
   Высшее профессиональное образование
   Применение вычислительной техники в педагогике
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- наноэдьюкаторы -- научные исследования -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Наноэдьюкатор - учебно-научный измерительный комплекс на основе сканирующего зондового микроскопа, направленный на формирование полноценного класса для обучения основам нанотехнологий, а также подходящий для научных исследований.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Магазов, И.
Электроника для нанотехнологий [Текст] / И. Магазов, С. Савинов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2011. - N 5. - С. 74-75. : ил.: 3 рис.

УДК

^a681.2

ББК 34.96
Рубрики: Приборостроение
Технология приборостроения
Кл.слова (ненормированные):
СЗМ -- сканирующая зондовая микроскопия -- ФемтоСкан -- сканирование -- бактериальные клетки -- кантилеверы
Аннотация: Описано устройство электронного модуля поколения ФемтоСкан.

Доп.точки доступа:
Савинов, С.; Яминский, И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Молекулярный экспресс-анализ для диагностики и биомедицины [Текст] / Д. Багров [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 1. - С. 32-36. : ил.: 7 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 36 (7 назв. )

УДК

^a616-07

ББК 53.4
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Общая диагностика
Кл.слова (ненормированные):
биомакромолекулы -- вирусные частицы -- клетки бактерий -- высшие организмы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- атомные весы -- кишечные палочки -- векторные вакцины -- дизентерия
Аннотация: Современные методы наноаналитики открывают новые возможности в медицинской диагностики на уровне отдельных биомакромолекул, вирусных частиц, клеток бактерий и высших организмов.

Доп.точки доступа:
Багров, Д.; Мешков, Г.; Синицына, О.; Смирнов, С.; Яминский, И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Синицына, О.
Визуализация атомной решетки графита: идеи для практикума [Текст] / О. Синицына, Г. Мешков, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2011. - N 1. - С. 52-54. : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 54 (7 назв. )

УДК

^a378

^a681.2

ББК 74.58 + 34.96
Рубрики: Образование. Педагогика
   Высшее профессиональное образование
   Приборостроение
   Технология приборостроения
Кл.слова (ненормированные):
атомная решетка графита -- визуализация -- СЗМ -- сканирующая зондовая микроскопия -- СТМ -- сканирующая туннельная микроскопия
Аннотация: Для освоения фундаментальных основ строения материи обучение естественно-научным специальностям обязательно включало практикум по сканирующей туннельной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Мешков, Г.; Яминский, И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-12

Тематический навигатор

Статистика за 06.09.2024
Число запросов	71993
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)