Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Ритвельда метод<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.


    Попов, В. А.
    Определение размера структурных элементов в ультрамелкозернистых материалах [Текст] / В. А. Попов, А. В. Сисанбаев, В. Н. Даниленко // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76, N 12. - С. 30-31. . - Библиогр.: с. 31 (9 назв. )
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
структурные элементы -- определение размеров элементов -- ультрамелкозернистые материалы -- субмикрокристаллическая медь -- спектры границ зерен -- интенсивные пластические деформации -- малоугловые границы -- метод Ритвельда -- Ритвельда метод -- экспресс-методы
Аннотация: Приведены результаты определения размера структурных элементов в образцах субмикрокристаллической меди с разными спектрами разориентировок границ зерен, полученных интенсивной пластической деформацией.


Доп.точки доступа:
Сисанбаев, А. В.; Даниленко, В. Н.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

2.


   
    Метод эволюционного структурно-чувствительного количественного рентгенофазового анализа многофазных поликристаллтческих материалов [Текст] / И. С. Якимов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 1. - С. 29-34. . - Библиогр.: с. 34 (15 назв. )
УДК
ББК 24.46/48 + 24.1 + 22.361
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

   Общая и неорганическая химия в целом

   Физика

   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
количественный рентгенофазовый анализ -- рентгенофазовый анализ -- многофазные поликристаллические материалы -- поликристаллические материалы -- эволюционная оптимизация -- полнопрофильный анализ -- метод Ритвельда -- Ритвельда метод -- дифракционный анализ
Аннотация: Предложен метод количественного рентгенофазового анализа, основанный на многокритериальной эволюционной оптимизации для автоматизации и повышения точности количественного рентгенофазового анализа, основанного на полнопрофильном анализе по методу Ритвельда.


Доп.точки доступа:
Якимов, И. С.; Залога, А. Н.; Соловьев, Л. А.; Якимов, Я. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

3.


   
    Применение метода Ритвельда при фазовом анализе продуктов синтеза дикальцийфосфата для костных цементов [Текст] / В. П. Сиротинкин [и др.] // Материаловедение. - 2014. - № 11. - С. 47-50 . - ISSN 1684-579Х
УДК
ББК 35.45
Рубрики: Химическая технология
   Вяжущие вещества

Кл.слова (ненормированные):
дикальцийфосфат дигидрат -- рентгенофазовый анализ -- метод Ритвельда -- Ритвельда метод -- костные цементы -- рентгенодифракционные данные -- аморфные вещества -- кристаллиты -- дифракционные пики
Аннотация: Целью настоящей работы является исследование возможностей полнопрофильного метода Ритвельда для определения содержания дикальцийфосфата в дикальцийфосфат дигидрат. Количественное содержание дикальцийфосфата в синтезированном дикальцийфосфате дигидрате может быть определено по рентгенодифракционным данным методом Ритвельда при условии разбавления исходной смеси аморфным веществом и введением поправок на предпочтительную ориентацию кристаллитов и асимметрию дифракционных пиков.


Доп.точки доступа:
Сиротинкин, В. П.; Федотов, А. Ю.; Шамрай, В. Ф.; Баринов, С. М.; Комлев, В. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

4.


   
    Количественное определение содержания маггемита и магнетита в их смесях рентгенодифракционными методами [Текст] / А. Б. Михайлова [и др.] // Материаловедение . - 2015. - № 9. - С. 36-42 . - ISSN 1684-579Х
УДК
ББК 34.22
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение черных металлов и сплавов

Кл.слова (ненормированные):
Ритвельда метод -- маггемиты -- магнетиты -- мессбауэровская спектроскопия -- метод Ритвельда -- нанопорошки -- рентгенодифракционные методы -- рентгенофазовый анализ -- смеси
Аннотация: Изучена возможность и выявлены особенности использования рентгенодифракционного метода Ритвельда для количественного определения содержания маггемита и магнетита в их смесях. Проведено сравнение полученных данных с данными мессбауэровской спектроскопии.


Доп.точки доступа:
Михайлова, А. Б.; Сиротинкин, В. П.; Федотов, М. А.; Корнеев, В. П.; Шамрай, В. Ф.; Коваленко, Л. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

5.


    Абзаев, Ю. А.
    Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного Аl[2]О[3] разных методов синтеза [Текст] / Ю. А. Абзаев, В. В. Сызранцев, С. П. Бардаханов // Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 3. - С. 129-135 : рис., табл. - Библиогр.: c. 135 (11 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
Ритвельда метод -- аморфное состояние -- аморфные структуры -- метод Ритвельда -- методы синтеза -- нанопорошки сплава оксид алюминия -- наночастицы оксида алюминия -- оксид алюминия -- параметр решетки -- структура нанопорошков сплава
Аннотация: Проведено исследование структурного состояния нанопорошков сплава Аl[2]О[3], синтезированных различными методами: испарения электронным пучком, гидролиза и плазмохимическим. Рентгеноструктурный анализ показал, что нанопорошки Аl[2]О[3], синтезированные различными методами, находятся в рентгеноаморфном и полуаморфном состояниях. Эти методы синтеза стимулируют создание аморфных структур с разной удельной поверхностью. Структурное состояние сплава Аl[2]О[3] исследовалось методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования. С целью идентификации внутреннего строения проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы Аl[2]О[3] в рамках молекулярной динамики. В результате полнопрофильного уточнения параметров модельных фаз нанопорошков Аl[2]О[3] установлена полная структурная информация синтезированных сплавов Аl[2]О[3]. Из первых принципов показано, что ячейки рентгеноаморфного Аl[2]О[3] оказались высокостабильными. Определены параметры элементарных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов. Показано, что в нанопорошках сплава Аl[2]О[3] с ростом энергии связи атомов в ячейке возрастает удельная поверхность.


Доп.точки доступа:
Сызранцев, В. В.; Бардаханов, С. П.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

6.


   
    Кристаллическая и зонная структура суперионного проводника нестехиометрического состава Cu[1,85]Te [Текст] = The crystal and band structure of the superionic conductor of nonstoichiometric composition Cu[1,85]Te / Н. Н. Биккулова [и др.] // Инженерная физика. - 2017. - № 9. - С. 15-20 : ил., табл., граф. - Библиогр.: с. 19-20 (10 назв.) . - ISSN 2072-9995
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
суперионная проводимость -- кристаллические структуры -- зонные структуры -- электронная плотность -- теллурид меди -- метод Ритвельда -- Ритвельда метод -- метод псевдопотенциала
Аннотация: В работе приведены результаты расчета по уточнению кристаллической структуры теллурида меди нестехиометрического состава Cu[1, 85]Te с помощью программного пакета Fullprof Suite по методу Ритвельда в интервале температуры 298…658 K. Построен график зависимости параметров кристаллической решетки от температуры в указанном интервале. Произведен расчет зонной структуры в рамках теории функционала электронной плотности с помощью метода псевдопотенциала, реализованного в программном пакете Quantum Espresso, а также полных и парциальных плотностей электронных состояний для исследуемого соединения.The results of calculations for clarifying the crystal structure telluride of copper with nonstoichiometric composition Cu[1, 85]Te are presented using the software package Fullprof Suite using the Rietveld method in the temperature range 298…658 K. A graph of the dependence of the parameters of the crystal lattice on the temperature in the indicated interval is constructed. The band structure was calculated in the framework of the theory of the electron density functional using the pseudopotential method realized in the Quantum Espresso software package, as well as full and partial densities of electronic states for the test compound.


Доп.точки доступа:
Биккулова, Нурия Нагимьяновна; Ягафарова, Зульфия Абдулхаевна; Акманова, Гузель Рифкатовна; Курбангулов, Азат Рифкатович; Биккулова, Алсу Валиулловна
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

7.


    Космачев, П. В.
    Количественный фазовый анализ высококремнеземистых материалов после плазменной обработки [Текст] / П. В. Космачев, Ю. А. Абзаев, В. А. Власов // Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 2. - С. 54-59 : рис. - Библиогр.: c. 58-59 (12 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 35.20 + 30.3 + 22.37
Рубрики: Химическая технология
   Технология неорганических веществ

   Техника

   Материаловедение

   Физика

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
Ритвельда метод -- аморфное состояние -- анализ высококремнеземистых материалов -- высококремнеземистые материалы -- диоксид кремния -- количественный фазовый анализ -- кристаллический диоксид кремния -- кристаллическое строение оксидов -- метод Ритвельда -- нанодисперсные материалы -- нанопорошок диоксида кремния -- плазменная обработка материалов -- структура кристаллических оксидов
Аннотация: Методами рентгеноструктурного анализа исследовалась структура оксидов SiO[2] двух состояний (кварцит, кварцевый песок) до и после плазменной обработки. Под действием плазмы сырье плавилось и испарялось в газообразную фазу, после чего проходило стадию закалки с конденсацией в виде наночастиц. Идентификация и уточнение структурных параметров решеток фаз осуществлялась методом Ритвельда. Обнаружено, что после плазменной обработки оксиды SiO[2] находились в аморфизированном состоянии. Моделирование аморфного состояния SiO[2] осуществлялось в рамках микроканонического ансамбля. Было показано, что аморфные фазы оказываются стабильными и с высокой степенью сходимости модельные интенсивности отраженного излучения аппроксимируют экспериментальные дифрактограммы. В рамках моделирования для кристаллических и аморфных фаз оксидов SiO[2] установлена полная структурная информация: определены координаты атомов, параметры структуры и заселенность узлов атомами кремния и кислорода.


Доп.точки доступа:
Абзаев, Ю. А.; Власов, В. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 07.09.2024
Число запросов 10692
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)