Поисковый запрос: (<.>K=температурные зависимости<.>) |
Общее количество найденных документов : 31
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Исследование моделирование температуры плавления малоразмерных систем/С. С. Белоусов [и др. ] // Известия вузов. Электроника, 2007,N N 1.-С.С. 15-21
|
2.
| Тиллес В. Ф. Модель упругой и релаксационной поляризации сегнетоэлектриков с распределением доменных границ по временам релаксации и собственным частотам/В. Ф. Тиллес, А. М. Метальников, Р. М. Печерская // Физика твердого тела, 2009. т.Т. 51,N вып. 7.-С.1415-1418
|
3.
| Методики определения вероятностных температурных зависимостей характеристик вязкости сталей/Ю. В. Желтов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2010.-С.51-55
|
4.
| Особенности механизма электропроводности полуизолирующих монокристаллов CdTe/Л. А. Косяченко [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 6
|
5.
| Алиев Ф. Ф. Влияние дефектов на электрические свойства Ag[2]S при фазовом переходе/Ф. Ф. Алиев, М. Б. Джафаров, В. И. Эминова // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 6
|
6.
| Увлечение электронов фононами в Ag[2]S/С. А. Алиев [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 6
|
7.
| Влияние микроволновой обработки на механизмы протекания тока в омических контактах Au-TiB[x]-Al-Ti-n{+}-n-n{+}-GaN-Al[2]O[3]/А. Е. Беляев [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 6
|
8.
| Оптические свойства четверных полупроводниковых твердых растворов GaN[x]As[y]P[1-x-y]/А. Ю. Егоров [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 7
|
9.
| Рассеяние электронов на акцепторных центрах в p-Ag[2]Te при низких температурах/Ф. Ф. Алиев [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 8
|
10.
| Оптические свойства тонких пленок GaSe/n-Si (111)/М. П. Киселюк [и др. ] // Физика и техника полупроводников, 2010. т.Т. 44,N вып. 8
|
|
|
|
БД "Книги"
Стандартный
Главная
Описание
Шлюз Z39.50