Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=верификационные тесты проверки цифровых компонентов<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лапутенко А. В., Лопез Х. Е., Евтушенко Н. В.
Заглавие : Обработка экспериментальных данных при верификации компонентов физических систем: оценка качества тестовых последовательностей
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 11. - С.146-151: рис., табл. - ISSN 0021-3411 (Шифр izph/2017/60/11). - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: c. 151 (6 назв. )
УДК : 004.67 + 53:51
ББК : 32.973-018.2 + 22.311
Предметные рубрики: Вычислительная техника
Системы обработки численных данных
Физика
Математическая физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): верификационные тесты проверки цифровых компонентов--верификация логических компонентов--область неисправности--проверяющие тесты--тестовые последовательности--физические системы--цифровые компоненты
Аннотация: Продолжение исследований по построению качественных верификационных тестов для проверки цифровых компонентов, используемых в различных физических системах, таких, как, например, встраиваемые датчики и элементы, используемые для передачи данных. Для экспериментальных исследований выбраны схемы из пакета бенчмарок B01-B10 (ITC’99 benchmarks (Second Release) ), которые представляют собой компоненты физических систем, спроектированных для различных приложений. Тестовые последовательности строятся, в первую очередь, для обнаружения наиболее широко известных мутаций эталонного описания с использованием трех различных подходов к синтезу тестов. В качестве мутаций рассматриваются одиночные константные неисправности, неисправности «перемычек» и неисправности, незначительно изменяющие поведение одного логического элемента цифровой схемы. Поскольку наибольший интерес представляют короткие тестовые последовательности, обеспечивающие определенные гарантии при положительном результате тестирования, экспериментально исследуются различные подходы к построению тестовых последовательностей, обнаруживающих заданное множество мутаций. В первой серии экспериментов сравниваются два подхода к построению так называемых полных тестов. В первом случае для каждой мутации находится обнаруживающая ее кратчайшая тестовая последовательность, во втором случае - тестовая последовательность генерируется псевдослучайным образом, т. е., вообще говоря, является более длинной. Тем не менее после минимизации теста, т. е. удаления последовательностей, обнаруживающих одно и то же множество мутаций, длина теста, построенного вторым способом, может быть существенно уменьшена, что в ряде случаев опровергает необходимость направленного синтеза кратчайшей последовательности, обнаруживающей одну мутацию. Однако проведенные эксперименты также показывают, что построение тестовых последовательностей исключительно случайным способом не дает возможности обнаружить все мутации заданного класса: начиная с определенной длины, происходит насыщение и полнота теста не увеличивается. Вместе с тем комбинация "чисто" случайного и псевдослучайного моделирования входных воздействий цифровых схем позволяет добиться высокой полноты относительно коротких тестов для перечисленных классов неисправностей.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 08.09.2024
Число запросов	26612
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)