Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды АМГУ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Книги" (4)БД "Статьи" (35)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=Рентгеновские лучи. Гамма-лучи<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   У
   Р 39


   
    Рентгеноструктурный анализ [Электронный ресурс] : учеб.-метод. комплекс дисц. по спец. 010600.68 - Прикладные математика и информатика / АмГУ, ИФФ ; сост. Е. С. Астапова. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2010. - 94 с. - Б. ц.
ББК 22.346я73
Рубрики: Физика
   Рентгеновские лучи. Гамма-лучи

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновский дифрактометр -- рентгеновские лучи -- закон Фриделя

Перейти: http://irbis.amursu.ru/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/3678.pdf
Держатели документа:
Электронная библиотека АмГУ

Доп.точки доступа:
Астапова, Е.С. \сост.\; Амурский государственный университет. Инженерно-физический факультет
Экземпляры всего: 1
эл. б-ка АмГУ (1)
Свободны: эл. б-ка АмГУ (1)
Найти похожие

2.
   У
   С 38


   
    Синхротронное излучение [Электронный ресурс] : учеб.-метод. комплекс дисц. по спец. : 010600.68 - Прикладные математика и физика / АмГУ, ИФФ ; сост. Е. А. Котов. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2011. - 20 с. - Б. ц.
ББК 22.346я73
Рубрики: Физика
   Рентгеновские лучи. Гамма-лучи

Кл.слова (ненормированные):
синхротронное излучение -- рентгеновские лучи -- синхротронные лучевые технологии

Перейти: http://irbis.amursu.ru/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/3686.pdf
Держатели документа:
Электронная библиотека АмГУ

Доп.точки доступа:
Котов, Е.А. \сост.\; Амурский государственный университет. Инженерно-физический факультет
Экземпляры всего: 1
эл. б-ка АмГУ (1)
Свободны: эл. б-ка АмГУ (1)
Найти похожие

3.


    Нещименко, Виталий Владимирович.
    Радиационная стойкость наноструктурированных материалов на основе ZnO, SiO2, Tio2 [Текст] / В. В. Нещименко // Вестник Амурского государственного университета. - 2017. - Вып. 79 : Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 182-185 : 3 рис. - Библиогр.: с. 185 (5 назв.)
УДК
ББК 22.346
Рубрики: Физика
   Рентгеновские лучи. Гамма-лучи

   
Кл.слова (ненормированные):
микрочастицы -- наночастицы -- оптические свойства покрытия -- радиационная стойкость -- спектры диффузного отражения
Аннотация: Исследовали влияние протонов (E=100 кэВ и Ф=5Х15 см2) на спектры диффузного отражения полых частиц, микро- и нанопорошков ZnO, SiO2, TiO2. По разностным спектрам диффузного отражения установлено, что радиационная стойкость полых частиц выше, чем у микрочастиц.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 06.09.2024
Число запросов 73276
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)