Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды АМГУ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Книги" (3)БД "Статьи" (13)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=стохастическое моделирование<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   У
   М74


   
    Моделирование и оптимизация технологических процессов [Текст] : учеб.-метод. комплекс для спец. 260901-Технология швейных изделий, 260902-Конструирование швейных изделий / АмГУ, ФПИ ; сост. И. В. Абакумова. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2007. - 163 с. : рис. - 50.50 р.
ББК 22.18я73
Рубрики: Математика
   Исследование операций

Кл.слова (ненормированные):
технологические процессы -- моделирование технологических процессов -- стохастическое моделирование

Перейти: file://10.8.14.33/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/1142.pdf

Доп.точки доступа:
Абакумова, Ирина Валентиновна \сост.\; Амурский государственный университет. Факультет прикладных искусств
Экземпляры всего: 1
ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)
Найти похожие

2.


   
    Компьютерное моделирование области взаимодействия пучков электронов с облученными сегнетоэлектрическими материалами [Текст] / А. В. Сивунов, А. Г. Масловская // Вестник Иркутского государственного технического университета. - 2013. - № 3. - С. 73-79 : 7 рис. - Библиогр.: с. 79 (10 назв.)
УДК
ББК 22.338
РУБ ВАК
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
стохастическое моделирование -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- электронное облучение -- транспорт электронов -- сегнетоэлектрики -- функция источника
Аннотация: Представлены результаты компьютерного моделирования транспорта электронов в сегнетоэлектрических материалах при облучении электронными пучками средних энергий. Разработано программное приложение, позволяющее проводить 3D-моделирование электронных траекторий методом Монте-Карло. Приведены численные реализации имитационной модели транспорта электронов в сегнетоэлектриках при диагностике методами растровой электронной микроскопии. Предложены модельные представления функции объемного источника, созданного пучком электронов в облученной мишени.


Доп.точки доступа:
Масловская, А.Г.; Сивунов, А.В. (аспирант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 18.07.2024
Число запросов 35324
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)