Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды АМГУ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Книги" (50)БД "Статьи" (485)Выпускные квалификационные работы (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.
   Н
   М75


   
    Моделирование тепловых процессов при взаимодействии электронных пучков с сегнетоэлектрическими материалами [Текст] / Е. В. Червякова, А. Г. Масловская // Молодежь XXI века: шаг в будущее : [В 4 ч.]: материалы 8 регион. межвуз. науч.-практ. конф. Благовещенск, 17-18 мая 2007 г. - М. : Изд-во Соврем. Гуманитар. ун-та, 2007. - Ч. 4. - С. 246-247 ; Материалы Всерос. конф. студентов, аспирантов и молодых ученых по физике. - Владивосток : Изд-во ДВГУ, 2007. - С. 41-42
ББК 94

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- электронные пучки


Доп.точки доступа:
Масловская, А.Г.; Червякова, Е.В.
Н/М75-858490 : Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)


Найти похожие

2.
   22.37
   М31


   
    Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами [Текст] : моногр. / А. Г. Масловская , И. Б. Копылова. - Владивосток : Дальнаука, 2010. - 204 с. : ил. - Библиогр. : с. 180. - ISBN 978-5-8044-1069-9 (в пер.) : 200.00 р.
ББК 22.379
Рубрики: Физика
   Физика полупроводников и диэлектриков

Кл.слова (ненормированные):
растровая электронная микроскопия -- сегнетоэлектрики -- сегнетоэлектрические материалы -- электронное облучение


Доп.точки доступа:
Копылова, И.Б.; Масловская, А.Г.
Экземпляры всего: 5
н.з. (1), ч.з. (2), аб. (2)
Свободны: н.з. (1), ч.з. (2), аб. (2)
Найти похожие

3.
   22.37
   Б26


    Барышников, С. В.
    Физика наноматериалов и нанотехнологий [Текст] : учеб. пособие / С. В. Барышников, А. Ю. Милинский, Е. В. Стукова. - Благовещенск : Изд-во Благовещ. гос. пед. ун-та, 2011. - 156 с. : рис. - Библиогр. : с. 153 . - 70.00 р.
ББК 22.379я73
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
наноразмерные материалы -- напыление тонких пленок -- нанопорошки -- нанопористые матрицы -- электронная микроскопия -- ядерный магнитный резонанс -- диэлектрическая спектроскопия -- физические свойства твердых тел


Доп.точки доступа:
Милинский, А.Ю.; Стукова, Е.В.
Экземпляры всего: 1
н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)
Найти похожие

4.
   94
   М 75


    Пасечникова, Е. С.
    Модельные представления зарядовых эффектов в диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии [Текст] / Е. С. Пасечникова, А. В. Сивунов // Молодежь XXI века: шаг в будущее : в 8 т. : материалы 13-й регион. науч.-практ. конф. с межрегион. и междунар. участием, посвященной Году истории в Российской Федерации (г. Благовещенск, 17-18 мая 2012 г.). - Благовещенск : Изд-во Благовещ. гос. пед. ун-та, 2012. - Т. 6: Физика. Математика и информатика. Инженерная геометрия и компьютерная графика. Машиностроение и машиноведение. Обработка конструкционных материалов в машиностроении. Электротехника. Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами. Энергетика . - С. 77-78 : рис.
ББК 94

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- зарядка диэлектриков


Доп.точки доступа:
Сивунов, А.В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

5.


   
    Имитационное моделирование формирования контраста РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков [Текст] / А. Г. Масловская // Информатика и системы управления. - 2013. - № 3. - С. 44-52. - Библиогр.: с. 52
УДК
ББК 22.379 + 32.973-018.2
Рубрики: Физика
   Физика полупроводников и диэлектриков

   Вычислительная техника

   Имитационное компьютерное моделирование

   
Кл.слова (ненормированные):
математическая модель -- алгоритм расчета изображений -- компьютерное моделирование -- доменная структура -- сегнетоэлектрики -- растровое изображение -- электронная микроскопия
Аннотация: Предложена система имитационного моделирования изображений сегнетоэлектрических доменных структур, наблюдаемых с помощью методик растровой электронной микроскопии. Представлены результаты вычислительного эксперимента.


Доп.точки доступа:
Масловская, А.Г.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

6.
   32.84
   В 92


   
    Выполнение расчетно-графической работы по теме "Растровая электронная микроскопия" [Текст] : учеб.-метод. пособие / АмГУ, НОЦ ; сост.: Д. В. Фомин, В. Л. Дубов. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 40 с. - 100.00 р.
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Общая радиотехника--Электронная аппаратура


Доп.точки доступа:
Фомин, Дмитрий Владимирович \сост.\; Дубов, В.Л. \сост.\
Экземпляры всего: 1
кх. (1)
Свободны: кх. (1)
Найти похожие

7.


    Борилко, А. С.
    Электронная микроскопия поверхности твердого сплава при электроискровой обработке [Текст] / А. С. Борилко, И . А. Астапов // IV международный Балтийский морской форум : материалы междунар. морского форума [Электронный ресурс]. - Калининград, 2016. - С. 460-465


Доп.точки доступа:
Астапов, И . А.

Найти похожие

8.
   22.37
   Б 24


    Барабаш, Татьяна Константиновна.
    Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Электронный ресурс] : моногр. / Т. К. Барабаш, А. Г. Масловская ; АмГУ, ФМиИ. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 149 с. : рис. - Библиогр. : с. 138 . - ISBN 978-5-93493-271-9 : Б. ц.
ББК 22.379
Рубрики: Физика
   Физика полупроводников и диэлектриков

Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрические материалы -- растровая электронная микроскопия -- доменные структуры -- самоподобие РЭМ-изображений -- электронное облучение -- процессы переключения поляризации сегнетоэлектриков

Перейти: http://irbis.amursu.ru/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/7405.pdf

Доп.точки доступа:
Масловская, Анна Геннадьевна; Амурский государственный университет. Факультет математики и информатики
Экземпляры всего: 1
эл. б-ка АмГУ (1)
Свободны: эл. б-ка АмГУ (1)
Найти похожие

 
Статистика
за 18.09.2024
Число запросов 23439
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)