22.37 Ф50 Физика твердого тела [Текст] : лабораторный практикум: учеб. пособие: рек. Мин. обр. РФ: В 2 т. / под ред. А.Ф. Хохлов. - 2-е изд., испр. - М. : Высш. шк., 2001 - . - ISBN 5-06-004023-2. Т. 1 : Методы получения твердых тел и исследования их структуры : учебное пособие. - 2001. - 366 с. : рис. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-06-004021-6 (в пер.) : 48.51 р.
Рубрики: Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): твердые тела, структура, методы -- малоугловая рентгенография, практикум -- динамическое рассеяние лучей, практикум -- растровая электронная микроскопия -- выращивание кристаллов, практикум -- зонная перекристаллизация, практикум Доп.точки доступа: Хохлов, А.Ф. \под ред.\ Экземпляры всего: 6 аб. (4), ч.з. (2) Свободны: аб. (4), ч.з. (2) |
22.37 М31 Масловская, Анна Геннадьевна. Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами [Текст] : моногр. / А. Г. Масловская, И. Б. Копылова. - Владивосток : Дальнаука, 2010. - 204 с. : ил. - Библиогр. : с. 180. - ISBN 978-5-8044-1069-9 (в пер.) : 200.00 р. Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): растровая электронная микроскопия -- сегнетоэлектрики -- сегнетоэлектрические материалы -- электронное облучение Доп.точки доступа: Копылова, Ирина Борисовна Экземпляры всего: 6 н.з. (1), ч.з. (2), аб. (3) Свободны: н.з. (1), ч.з. (2), аб. (3) |
22.37 Ф 76 Фомин, Дмитрий Владимирович . Экспериментальные методы физики твердого тела [Текст] : учеб. пособие / Д. В. Фомин ; АмГУ, ИФФ. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2014. - 185 с. : рис. - 116.74 р., 116.74 р. Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография Кл.слова (ненормированные): техника сверхвысокого вакуума -- техника термического осаждения в вакууме -- вторичные электроны -- оже-электронная спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- растровая электронная микроскопия -- электронный зонд -- дифракция медленных электронов -- дифракция быстрых электронов -- дифракция рентгеновских лучей -- электронный парамагнитный резонанс Доп.точки доступа: Амурский государственный университет. Инженерно-физический факультет Экземпляры всего: 24 ч.з. (3), аб. (21), кх. Свободны: ч.з. (3), аб. (21) |
32.84 В 92 Выполнение расчётно-графической работы по теме "Растровая электронная микроскопия" [Текст] : учеб.-метод. пособие / Амурский государственный университет. Научно-образовательный центр) ; сост.: Д. В. Фомин, В. Л. Дубов. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 39 с. : рис. - Библиогр. : с. 37 . - 100.00 р., 60.00 р. Рубрики: Радиоэлектроника Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): растровая электронная микроскопия -- электронный зонд -- потери энергии электронов в веществе -- источники сигналов -- взаимодействие электронногопучка с веществом -- обработка видеосигнала в РЭМ -- методика эксперимента Доп.точки доступа: Фомин, Дмитрий Владимирович \сост.\; Дубов, Виктор Леонидович \сост.\; Амурский государственный университет. Научно-образовательный центр Экземпляры всего: 54 кх., аб. (54) Свободны: аб. (54) |
22.37 Б 24 Барабаш, Татьяна Константиновна. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Текст] : моногр. / Т. К. Барабаш, А. Г. Масловская ; АмГУ, ФМиИ. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 148 с. : рис. - Библиогр. : с. 138 . - ISBN 978-5-93493-271-9 : 320.00 р. Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические материалы -- растровая электронная микроскопия -- доменные структуры -- самоподобие РЭМ-изображений -- электронное облучение -- процессы переключения поляризации сегнетоэлектриков Доп.точки доступа: Масловская, Анна Геннадьевна; Амурский государственный университет. Факультет математики и информатики Экземпляры всего: 5 н.з. (1), ч.з. (2), аб. (2) Свободны: н.з. (1), ч.з. (2), аб. (2) |
22.37 Б 24 Барабаш, Татьяна Константиновна. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Электронный ресурс] : моногр. / Т. К. Барабаш, А. Г. Масловская ; АмГУ, ФМиИ. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 149 с. : рис. - Библиогр. : с. 138 . - ISBN 978-5-93493-271-9 : Б. ц. Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические материалы -- растровая электронная микроскопия -- доменные структуры -- самоподобие РЭМ-изображений -- электронное облучение -- процессы переключения поляризации сегнетоэлектриков Перейти: http://irbis.amursu.ru/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/7405.pdf Доп.точки доступа: Масловская, Анна Геннадьевна; Амурский государственный университет. Факультет математики и информатики Экземпляры всего: 1 эл. б-ка АмГУ (1) Свободны: эл. б-ка АмГУ (1) |
А Б 24 Барабаш, Татьяна Константиновна. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Текст] : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : спец. 01.04.07 -Физика конденсированного состояния / Т. К. Барабаш ; АмГУ, ФМиИ. - Барнаул, 2015. - 19 с. : рис. - Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): доменные структуры сегнетоэлектриков -- сегнетоэлектрические кристаллы -- растровая электронная микроскопия Доп.точки доступа: Амурский государственный университет. Факультет математики и информатики Экземпляры всего: 1 н.з. (1) Свободны: н.з. (1) |