30.3 Б87 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : [учеб.] / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ., под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2006. - 378 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Предм. указ.: с. 376. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 275.00 р. Рубрики: Материаловедение Кл.слова (ненормированные): микроструктура материалов -- микроструктурные детали -- кристаллическая структура материалов -- дифракционный анализ кристаллической структуры -- рентгеновская дифракция -- дифракционный анализ -- дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- оптическая анизотропия -- электронная микроскопия -- электрохимическое травление -- ионное травление -- напыление покрытия Доп.точки доступа: Каплан , У.; Баженов, С.Л. \пер. с англ., ред.\ Экземпляры всего: 15 аб. (15), ч.з. Свободны: аб. (15) |
22.34 А 67 Анищик, В. М. Дифракционный анализ [Электронный ресурс] : учеб. пособие / В. М. Анищик, В. В. Понарядов, В. В. Углов. - Минск : Вышэйш. шк., 2011. - 216 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц. Рубрики: Физика Оптика Кл.слова (ненормированные): Дифракционный анализ Перейти: http://www.iprbookshop.ru/20072 Доп.точки доступа: Понарядов, В.В.; Углов, В.В. Свободных экз. нет |