Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (8)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=лазерный отжиг<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   34.5
   Г83


    Григорьянц, Александр Григорьевич.
    Технологические процессы лазерной обработки [Текст] : учеб. пособие: доп. Мин. обр. РФ / А. Г. Григорьянц, И. Н. Шиганов, А. И. Мисюров ; под ред. А. Г. Григорьянца. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2006. - 664 с. : рис., фото. - Библиогр.: с. 662. - ISBN 5-7038-2701-9 (в пер.) : 411.75 р.
ББК 34.58я73
Рубрики: Лазерная обработка
Кл.слова (ненормированные):
лазерная обработка, основы -- лазерное излучение, свойства -- плазменные процессы -- лазерное оборудование -- лазерная закалка сплавов -- лазерный отжиг -- лазерный отпуск -- лазерная наплавка -- лазерная сварка металлов -- лазерное разделение материалов -- лазерная размерная обработка -- лазерные технологии -- лазерная пайка металла


Доп.точки доступа:
Шиганов, Игорь Николаевич; Мисюров, Александр Иванович; Григорьянц, А. Г. \ред.\
Экземпляры всего: 5
ч.з. (2), аб. (3)
Свободны: ч.з. (2), аб. (3)
Найти похожие

2.
   32.84
   М25


    Марголин, Владимир Игоревич.
    Физические основы микроэлектроники [Текст] : учеб. : рек. УМО / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. - М. : Академия, 2008. - 400 с. : ил. - (Высшее проф. образование. Радиоэлектроника). - Библиогр. : с. 395. - ISBN 978-5-7695-4227-5 (в пер.) : 512.60 р.
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Радиоэлектроника
   Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика, понятия -- квантование энергии -- энергия Ферми -- кристаллическое состояние вещества -- индексы Миллера -- молекулярные связи -- ковалентная связь -- квазичастицы -- фуллериты -- фуллериды -- перколяция -- реальные фракталы -- технология получения тонких пленок -- ионное распыление -- фотолитография -- электронная литография -- низковольтная электронная литография -- лазерное легирование -- ионное легирование -- лазерный отжиг -- термический отжиг -- электронная микроскопия -- сканирующий микроскоп -- эллипсометрия, основы

Держатели документа:
БД Книги КО

Доп.точки доступа:
Жабрев, Валентин Александрович; Тупик, Виктор Анатольевич
Экземпляры всего: 5
ч.з. (2), аб. (3)
Свободны: ч.з. (2), аб. (3)
Найти похожие

 
Статистика
за 18.09.2024
Число запросов 24874
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)