Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (134)Труды АМГУ (4)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-17 
1.
   22.34
   Г68

    Горелик, С. С.
    Ренгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : Учеб.пособие для вузов.Рек.Гос.Ком.РФ / Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. - 3-е изд.,доп.и прераб. - М. : МИСИС, 1994. - 328с. - ISBN 5-87623-001-4 : 20.00 р.
ББК 22.344я73 + 34.2я73
Рубрики: Металловедение
Кл.слова (ненормированные):
учебник -- ренгеноструктурный анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- фазовый анализ -- электронная микродифракция -- спектральный анализ


Доп.точки доступа:
Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н.
Экземпляры всего: 8
эн.ф. (1), аб. (2), ч.з. (5)
Свободны: эн.ф. (1), аб. (2), ч.з. (5)
Найти похожие
2.
   22.3
   А64

    Ангерер, Э.
    Техника физического эксперимента [Текст] : [моногр.] / Э. Ангерер; Ред. К.П. Яковлев. - пер. с 12-го нем. изд. - М. : Физматгиз, 1962. - 452 с. : рис., табл. - Загл. на доп.тит. листе на нем. яз. - Библиогр.: с. 391-445. - 18 000 экз.. - (в пер.) : 1.79 р.
ГРНТИ
29
УДК
53
ББК 22.3
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
МАГНЕТИЗМ -- лабораторные материалы -- электронная микроскопия -- вакуумная техника -- магнетизм -- оптика -- оптические приборы -- стабилизаторы -- термостаты -- акустические приборы -- камера Вильсона -- ячейка Керра


Доп.точки доступа:
Яковлев, К.П. \ред.\
Экземпляры всего: 1
аб. (1)
Свободны: аб. (1)
Найти похожие
3.
   22.34
   Г68

    Горелик, Семен Самуилович.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : учеб. пособие: Рек. УМО по обр. в обл. металлургии / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 359 с. : ил. - Библиогр.: с. 357. - ISBN 5-87623-096-0 (в пер.) : 287.50 р.
Прил.: с. 257
ББК 22.344я73
Рубрики: Кристаллография
   Рентгенография
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская техника -- рентгенограммы, расчет -- рентгеноструктурный анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ


Доп.точки доступа:
Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н.
Экземпляры всего: 3
ч.з. (1), аб. (2)
Свободны: ч.з. (1), аб. (2)
Найти похожие
4.
   32.85
   Н25

   
    Нанотехнологии в электронике [Текст] : моногр. / под ред. Ю.А.Чаплыгина. - М. : Техносфера, 2005. - 447 с. : рис. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-059-8 (в пер.) : 275.00 р.
ББК 32.85
Рубрики: Нанотехнологии--электроника
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии в электронных системах -- электронная микроскопия -- углеродные нанотрубки -- наноструктуры, основные методы создания -- наноструктуры в полупроводниках -- полупроводниковые гетероструктуры -- зондовые нанотехнологии -- высокотемпературные сверхпроводники в наноэлектронике


Доп.точки доступа:
Чаплыгин, Ю.А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)
Найти похожие
5.
   30.3
   Б87

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : [учеб.] / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ., под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2006. - 378 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Предм. указ.: с. 376. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 275.00 р.
ББК 30.36я73
Рубрики: Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- микроструктурные детали -- кристаллическая структура материалов -- дифракционный анализ кристаллической структуры -- рентгеновская дифракция -- дифракционный анализ -- дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- оптическая анизотропия -- электронная микроскопия -- электрохимическое травление -- ионное травление -- напыление покрытия


Доп.точки доступа:
Каплан , У.; Баженов, С.Л. \пер. с англ., ред.\
Экземпляры всего: 15
аб. (15), ч.з.
Свободны: аб. (15)
Найти похожие
6.
   32.86
   С38

    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : [моногр.] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 254 с. : рис. - (Мир материалов и технологий ; VI. 08). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.) : 183.36 р.
Прил.: с. 239
ББК 32.86
Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- электронный микроскоп -- электронная пушка -- высоковольтный генератор -- спектрометры -- дисперсия электронов -- оптика спектрометра -- электронная оптика -- рентгеновская спектроскопия -- электронная дифракция -- метод Фуко -- вакуумное напыление


Доп.точки доступа:
Оикава, Тецуо; Иванов, С.А. \пер. с англ.\
Экземпляры всего: 2
аб. (2)
Свободны: аб. (2)
Найти похожие
7.
   32.84
   М25

    Марголин, Владимир Игоревич.
    Физические основы микроэлектроники [Текст] : учеб. : рек. УМО / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. - М. : Академия, 2008. - 400 с. : ил. - (Высшее проф. образование. Радиоэлектроника). - Библиогр. : с. 395. - ISBN 978-5-7695-4227-5 (в пер.) : 512.60 р.
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Радиоэлектроника
   Микроэлектроника
Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика, понятия -- квантование энергии -- энергия Ферми -- кристаллическое состояние вещества -- индексы Миллера -- молекулярные связи -- ковалентная связь -- квазичастицы -- фуллериты -- фуллериды -- перколяция -- реальные фракталы -- технология получения тонких пленок -- ионное распыление -- фотолитография -- электронная литография -- низковольтная электронная литография -- лазерное легирование -- ионное легирование -- лазерный отжиг -- термический отжиг -- электронная микроскопия -- сканирующий микроскоп -- эллипсометрия, основы

Держатели документа:
БД Книги КО

Доп.точки доступа:
Жабрев, Валентин Александрович; Тупик, Виктор Анатольевич
Экземпляры всего: 5
ч.з. (2), аб. (3)
Свободны: ч.з. (2), аб. (3)
Найти похожие
8.
   22.37
   Н34

   
    Научные основы нанотехнологий и новые приборы [Текст] : учеб.- моногр. / под ред. Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана ; пер. с англ. А. Д. Калашникова. - М. : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ББК 22.37я73 + 32.844.1я73
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Микроэлектроника
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- наноструктуры, классификация -- методология нанотехнологий -- электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- фотонная спектроскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- магнитостатика -- наномагнетизм в технике -- неорганические наноматериалы, свойства -- материалы для молекулярной электроники -- мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- бионанотехнологии -- искусственный фотосинтез


Доп.точки доступа:
Келсалл, Р. \ред.\; Хамли, А. \ред.\; Геогеган, М. \ред.\; Калашников, А.Д. \пер. с англ.\
Экземпляры всего: 7
аб. (7), ч.з.
Свободны: аб. (7)
Найти похожие
9.
   24.5
   Ф19

    Фахльман, Бредли.
    Химия новых материалов и нанотехнологии [Текст] : учеб. пособие / Б. Фахльман. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 464 с. : ил. - ISBN 978-5-91559-029-7 (в пер.) : 1963.50 р., 1045.20 р.
Прил. : с. 445
ББК 24.5я73
Рубрики: Химия
   Физическая химия. Химическая физика
Кл.слова (ненормированные):
химия материалов -- химия твердого тела -- ионные твердые тела -- металлические твердые тела -- порошковая металлургия -- полупроводниковые материалы -- мягкие органические материалы -- классификация полимеров -- наноматериалы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия

Экземпляры всего: 2
аб. (2), ч.з.
Свободны: аб. (2)
Найти похожие
10.
   22.37
   Б26

    Барышников, Сергей Васильевич.
    Физика наноматериалов и нанотехнологий [Текст] : учеб. пособие / С. В. Барышников, А. Ю. Милинский, Е. В. Стукова. - Благовещенск : Изд-во Благовещ. гос. пед. ун-та, 2011. - 156 с. : рис. - Библиогр. : с. 153 . - 70.00 р.
ББК 22.379я73
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
наноразмерные материалы -- напыление тонких пленок -- нанопорошки -- нанопористые матрицы -- электронная микроскопия -- ядерный магнитный резонанс -- диэлектрическая спектроскопия -- физические свойства твердых тел


Доп.точки доступа:
Милинский, Алексей Юрьевич; Стукова, Елена Владимировна
Экземпляры всего: 1
н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)
Найти похожие
 1-10    11-17 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 27.07.2024
Число запросов 22780
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)