Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (58)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   22.33
   М63


    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие / В. Л. Миронов. - М. : Техносфера, 2005. - 144 с. : рис. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 116 . - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 225.00 р.
ББК 22.338я73
Рубрики: Сканирующая микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- электросиловая микроскопия -- магнитно-силовая микроскопия

Экземпляры всего: 5
аб. (2), ч.з. (3)
Свободны: аб. (2), ч.з. (3)
Найти похожие

2.
   22.33
   С 74


   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] / под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван. - М. : Науч. мир, 2011. - 712 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники). - Предм. указ.: с. 702. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 2000.00 р.
ББК 22.338я2
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- ионная микроскопия -- нанотехнология -- сканирующая оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- термоэлектрическая микроскопия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- нанокристаллические материалы -- электронная нанокристаллография -- электронная голография


Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\
Экземпляры всего: 1
н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)
Найти похожие

3.
   22.36
   С 74


    Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / под ред. Б. Бхушана, пер. с англ., общ. ред. А. Н. Саурова. - М. : Техносфера, 2010 - . - ISBN 978-5-94836-261-8.
   Т. 2. - 2010. - 1040 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 : 1090.91 р.
ББК 22.36я2
Рубрики: Физика
   Молекулярная физика

Кл.слова (ненормированные):
сканирующий микроскоп -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- нанотрибология -- наномеханика -- биологическая нанотехнология -- наноструктуры, механические свойства


Доп.точки доступа:
Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А.Н. \пер. с англ., ред.\
Экземпляры всего: 1
ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)
Найти похожие

 
Статистика
за 02.09.2024
Число запросов 756
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)