Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=атомно-зондовая томография<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   22.33
   С 74


   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] / под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван. - М. : Науч. мир, 2011. - 712 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники). - Предм. указ.: с. 702. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 2000.00 р.
ББК 22.338я2
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- ионная микроскопия -- нанотехнология -- сканирующая оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- термоэлектрическая микроскопия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- нанокристаллические материалы -- электронная нанокристаллография -- электронная голография


Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\
Экземпляры всего: 1
н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)
Найти похожие

 
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 35578
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)