Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=фуллериты<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   22.34
   С89


    Суздалев, Игорь Петрович.
    Нанотехнология [Текст] : физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов / И. П. Суздалев. - 2-е изд., испр. - М. : ЛИБРОКОМ, 2009. - 589 с. - (Синергетика: от прошлого к будущему). - ISBN 978-5-397-00217-2 (в пер.) : 493.56 р.
ББК 22.344 + 22.36 + 24.5
Рубрики: Физика
   Нанотехнологии

Кл.слова (ненормированные):
молекулярные кластеры -- коллоидные кластеры -- дифракция электронов -- электронная спектроскопия -- оптическая спектроскопия -- молекулярные орбитали -- радиоспектроскопия -- молекулярные кластеры металлов -- кластеры алюминия -- кластеры ртути -- углеродные кластеры -- кластеры инертных газов -- кластерные реакции -- коллоидные кластеры -- наноструктуры -- фуллериты -- нанотрубки, структура, свойства -- твердотельные нанокластеры -- наносистемы, электронные свойства -- оптические наноустройства -- наноструктуры, магнитные свойства

Экземпляры всего: 1
н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)
Найти похожие

2.
   32.84
   М25


    Марголин, Владимир Игоревич.
    Физические основы микроэлектроники [Текст] : учеб. : рек. УМО / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. - М. : Академия, 2008. - 400 с. : ил. - (Высшее проф. образование. Радиоэлектроника). - Библиогр. : с. 395. - ISBN 978-5-7695-4227-5 (в пер.) : 512.60 р.
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Радиоэлектроника
   Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика, понятия -- квантование энергии -- энергия Ферми -- кристаллическое состояние вещества -- индексы Миллера -- молекулярные связи -- ковалентная связь -- квазичастицы -- фуллериты -- фуллериды -- перколяция -- реальные фракталы -- технология получения тонких пленок -- ионное распыление -- фотолитография -- электронная литография -- низковольтная электронная литография -- лазерное легирование -- ионное легирование -- лазерный отжиг -- термический отжиг -- электронная микроскопия -- сканирующий микроскоп -- эллипсометрия, основы

Держатели документа:
БД Книги КО

Доп.точки доступа:
Жабрев, Валентин Александрович; Тупик, Виктор Анатольевич
Экземпляры всего: 5
ч.з. (2), аб. (3)
Свободны: ч.з. (2), аб. (3)
Найти похожие

 
Статистика
за 31.07.2024
Число запросов 117040
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)