Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Книги" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=дифракционный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 30.3/Б87
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : [учеб.]
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :378 с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Предм. указ.: с. 376
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-018-0: 275.00 р.
ББК : 30.36я73
Предметные рубрики: Материаловедение
Экземпляры : всего 5: аб.(15)
Свободны : аб.(15)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22.34/А 67
Автор(ы) : Анищик В.М., Понарядов В.В., Углов В.В.
Заглавие : Дифракционный анализ : учеб. пособие
Выходные данные : Минск: Вышэйш. шк., 2011
Колич.характеристики :216 с.
ISBN, Цена 978-985-06-1834-4: Б.ц.
ББК : 22.344я73. LBC/PL
Предметные рубрики: Физика
Оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
Перейти: http://www.iprbookshop.ru/20072
Найти похожие

 
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 20663
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)