Чапланов, А. М. Структурные и фазовые превращения в тонких пленках молибдена при стационарном облучении азот-водородной плазмой [Текст] / А. М. Чапланов, Е. Н. Щербакова> // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 508-510. : рис. - Библиогр.: c. 510 (3 назв. )
Рубрики: Радиоэлектроника Импульсные устройства Кл.слова (ненормированные): просвечивающая электронная микроскопия -- электронография -- тонкие пленки -- молибден -- плазменная обработка -- дуговой разряд -- нитрид молибдена -- азот-водородная плазма Аннотация: Методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии проведены исследования структурных и фазовых превращений в тонких пленках молибдена при облучении азот-водородной плазмой дугового разряда. Доп.точки доступа: Щербакова, Е. Н. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Структура и состав нанотрубок, формирующихся при анодном окислении титана [Текст] / В. И. Николайчик [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 8. - С. 1047-1049 : рис. - Библиогр.: c. 1049 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): аналитическая электронная микроскопия -- глицерин -- дифракционная просвечивающая электронная микроскопия -- нанотрубки -- титановые импланты -- энергодисперсионный анализ элементного состава -- этиленгликоль Аннотация: Методами аналитической и дифракционной просвечивающей электронной микроскопии исследованы структура и состав нанотрубок длиной ~ 1. 5 мкм и диаметром ~ 100 нм, сформированных на поверхности пластин титана электролитическим методом в двухэлектродной ячейке при комнатной температуре в растворе 0. 5 вес. % NH[4]F в этиленгликоле и глицерине. Доп.точки доступа: Николайчик, В. И.; Чапланов, А. М.; Ходос, И. И.; Багаев, С. И.; Чекан, Н. М. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Оcобенности фазовых превращений в системе Ni[V]-Pt-Si при ступенчатом стационарном отжиге [Текст] / А. М. Чапланов [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2015. - Т. 79, № 11. - С. 1543-1546 : рис. - Библиогр.: c. 1546 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): кремниевые пластины -- магнетронное распыление -- пленки Pt -- силициды никеля -- ступенчатый стационарный отжиг -- твердые растворы -- фазовые превращения -- электронография на отражение Аннотация: Методами электронографии "на отражение" исследовались особенности фазовых превращений в системе Ni[V]-Pt-Si при ступенчатом стационарном отжиге. На поверхность кремниевой пластины марки КЭФ-0. 5 с ориентацией (111) методом магнетронного распыления наносилась пленка Pt толщиной 0. 015-0. 02 мкм, а затем - пленка никеля, легированная ванадием толщиной 0. 08 мкм. Доп.точки доступа: Чапланов, А. М.; Маркевич, М. И.; Малышко, А. Н.; Щербакова, Е. Н.; Солодуха, В. А.; Турцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Сарычев, О. Э. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |