Левина, О. В. Спектроскопическая диагностика плазмы с сильным межчастичным взаимодействием [Текст] / О. В. Левина // Оптика и спектроскопия. - 2007. - Т. 103, N 6. - С. 943-945.
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): плазма -- диагностика плазмы -- низкотемпературная плотная плазма -- межчастичное взаимодействие -- спектроскопическая диагностика Аннотация: На примере спектров излучения низкотемпературной плотной плазмы органического состава, полученной в струях капиллярного и щелевого разрядов с испаряемой стенкой, показано, что линии однократно ионизованного углерода, уширенные в условиях значительного экранирования плазменных микрополей, могут служить надежными “стандартами” для определения концентрации электронов. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Левина, О. В. О характере штарковского сдвига ионных линий в плазме с сильным межчастичным взаимодействием [Текст] / О. В. Левина // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 109, N 4. - С. 556-559. . - Библиогр.: с. 558-559 (19 назв. )
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): спектроскопические исследования -- плазма -- плазменные струи -- углерод -- ионизованный углерод -- электронная плотность Аннотация: В результате спектроскопического исследования плазменной струи капиллярного и щелевого разрядов с испаряемой стенкой установлена линейность штарковского смещения линий однократно ионизованного углерода. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Левина, О. В. Экспериментальные штарковские параметры линии углерода с II 2993 A [Текст] / О. В. Левина // Оптика и спектроскопия. - 2011. - Т. 111, N 3. - С. 355-359. . - Библиогр.: с. 359 (5 назв. )
Рубрики: Физика Спектроскопия Ядерная физика в целом Молекулярная физика в целом Кл.слова (ненормированные): штарковские параметры -- атомная спектроскопия -- астрофизика -- физика плазмы -- ионизованный углерод -- углерод -- электронная ударная ширина -- ионное уширение -- плазма -- заряженные частицы Аннотация: Изучение штарковских параметров спектральной линии имеет важное значение для решения ряда задач атомной спектроскопии, астрофизики и физики плазмы. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |