Галаев, А. Б. Комплекс проблемно-ориентированных программ анализа микрофотоизображений текстуры нанокомпозитов "FRA_VA_T" [Текст] / А. Б. Галаев, О. Б. Бутусов, В. П. Мешалкин // Программные продукты и системы. - 2014. - № 2. - С. 150-157 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 156-157 (22 назв.) . - ISSN 0236-235X
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): "FRA_VA_T" -- кластеры -- микрофотография -- нанокомпозиты -- фрактальные анализы Аннотация: В настоящее время весьма актуальны научные исследования, направленные на создание методов и алгоритмов компьютерного моделирования и анализа структуры композиционных материалов. Данные методы и алгоритмы имеют существенное значение для проектирования различных специальных функциональных конструкций и технических изделий из высокоэффективных композитов с учетом их полного жизненного цикла. Доп.точки доступа: Бутусов, О. Б.; Мешалкин, В. П. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |