Nano-engineering in long wavelength wafer-fused VCSEL fabrication for microwave photonics [Text] = Наноинженерия в процессе изготовления сплавной структуры длинноволнового поверхностно-излучающего лазера с вертикальным каналом для радиофотоники / M. Belkin [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2014. - Т. 5, № 2. - С. 33-47. - Библиогр.: c. 45-46 . - ISSN 2225-0999
Рубрики: Импульсные устройства Радиоэлектроника Квантовая электроника Кл.слова (ненормированные): LW-VCSEL -- оптоэлектронная обработка -- поверхностно-излучающие лазеры -- радиолокационные системы -- радиофотоника -- радиофотонные устройства -- телекоммуникационные системы Аннотация: Рассмотрены принципы построения на базе "длинноволнового" поверхностно излучающего лазера с вертикальным микрорезонатором LW-VCSEL (разработки Лозаннского политехнического университета двух новых радиофотонных устройств: генератора и преобразователя частоты). Приведены результаты разработки, показавшие эффективность применения данного лазера в устройствах радиофотоники и ограниченность их рабочего диапазона вследствие ограниченности его полосы прямой модуляции. С целью анализа путей расширения последней изучены физические и технологические принципы изготовления LW-VCSEL сплавной структуры и ее статические и динамические и динамические характеристики. Путем физического моделирования в программной среде Cross Light определено влияние наноразмерного травления толщины слоев верхнего зеркала на потери и время жизни фотона в резонаторе. Показано, что их оптимизация с "атомным" разрешением приводит к почти двукратному (6…11 ГГц) расширению полосы модуляции данного лазера. С целью верификации результатов моделирования была изготовлена опытная партия LW-VCSEL оптимизированной структуры, на базе которой проведен эксперимент по передаче на расстояние 10 км цифрового сигнала со скоростью 10 Гбит/с с качеством, удовлетворяющим требованиям к современной локальной телекоммуникационной системе. Доп.точки доступа: Belkin, М.; Sigov, А.; Ellafi, D.; Iakovlev, V.; Kapon, Е. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Белкин, М. Викселоника – новое направление оптоэлектронной обработки радиосигналов [Текст]. Ч. 1. Компонентная база / М. Белкин, В. Яковлев // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2015. - № 3. - С. 92-111 . - ISSN 1992-4178
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): VCSEL -- Vertical-cavity surface-emitting laser -- вертикальные резонаторы -- викселоника -- лазеры -- оптоэлектронная обработка радиосигналов -- поверхностно излучающие лазеры -- радиосигналы -- радиофотоника -- фотоника Аннотация: Термин "викселоника" образован от известной аббревиатуры VCSEL (Vertical-cavity surface-emitting laser – поверхностно излучающий лазер с вертикальным резонатором) и слова "фотоника". Устройства на базе VCSEL имеют ряд выигрышных особенностей, благодаря чему это направление интенсивно развивается за рубежом. На вопросы какая компонентная база на основе VCSEL доступна сегодня, каковы ее характеристики и возможности отвечает предлагаемый обзор. Доп.точки доступа: Яковлев, В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1) Свободны: эн.ф. (1) |
Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров при помощи источников-измерителей 2602B или 2606B и графического сэмплирующего мультиметра DMM7510 [Текст] = Laser diode array test for 3D sensing with a 2602B or 2606B system SourceMeter® instrument and DMM7510 graphical sampling DMM // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2019. - № 4 (август). - С. 15-20 : ил.
Рубрики: Энергетика Электротехнические материалы и изделия в целом Электрические измерения Кл.слова (ненормированные): 2602B -- 2606B -- DMM7510 -- TOF -- TSP-совместимые приборы -- VCSEL -- источники-измерители -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- лазерные диоды -- лазеры -- мультиметры -- трехмерное сканирование -- электрические системы Аннотация: Рассказано о TSP-совместимых источниках-измерителях 2602B и 2606B, а также мультиметре DMM7510 компании Keithley, с помощью которых можно объединить приборы в единую систему, и достичь высокой синхронизации запуска и максимальной пропускной способности в любой автоматизированной производственной среде. Доп.точки доступа: Keithley, компания; Компания Keithley Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1) Свободны: а.к. (1) |