Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров при помощи источников-измерителей 2602B или 2606B и графического сэмплирующего мультиметра DMM7510 [Текст] = Laser diode array test for 3D sensing with a 2602B or 2606B system SourceMeter® instrument and DMM7510 graphical sampling DMM // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2019. - № 4 (август). - С. 15-20 : ил.
Рубрики: Энергетика Электротехнические материалы и изделия в целом Электрические измерения Кл.слова (ненормированные): 2602B -- 2606B -- DMM7510 -- TOF -- TSP-совместимые приборы -- VCSEL -- источники-измерители -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- лазерные диоды -- лазеры -- мультиметры -- трехмерное сканирование -- электрические системы Аннотация: Рассказано о TSP-совместимых источниках-измерителях 2602B и 2606B, а также мультиметре DMM7510 компании Keithley, с помощью которых можно объединить приборы в единую систему, и достичь высокой синхронизации запуска и максимальной пропускной способности в любой автоматизированной производственной среде. Доп.точки доступа: Keithley, компания; Компания Keithley Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1) Свободны: а.к. (1) |