Плеханов, А. И. Оптические постоянные нанометровых пленок J-агрегатов органических красителей, измеренные методами спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии [Текст] / А. И. Плеханов, В. В. Шелковников> // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 4. - С. 606-613
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): органические красители -- J-агрегаты органических красителей -- нанометровые пленки J-агрегатов -- оптические постоянные -- показатель преломления -- спектральная эллипсометрия -- поляризационная рефлектометрия Аннотация: С использованием методов спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии измерена дисперсия комплексного показателя преломления тонких пленок J-агрегатов органических красителей. Обнаружено, что практически для всех пленок J-агрегатов в длинноволновой области, где пленка прозрачна, наблюдается нормальная дисперсия. В спектральном диапазоне, где пленка поглощает, наблюдается аномальная дисперсия, которая в J-пике максимальна. Здесь показатель преломления достигает значения n приближенно равно 2. 5-3. 5. Выявлено, что метод поляризационной рефлектометрии обеспечивает адекватную точность определения оптических постоянных n и к нанометровых пленок органических красителей. Доп.точки доступа: Шелковников, В. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |