Артемьев, В. А. Получение вещества с предельно низким содержанием примесей [Текст] / В. А. Артемьев, С. М. Киреев> // Физика и химия обработки материалов. - 2011. - N 3. - С. 5-12.
Рубрики: Физика Элементарные частицы Кл.слова (ненормированные): атомы примесей -- нейтринные детекторы -- диспергирование -- оксидные пленки -- Ga-Ge нейтринные детекторы -- абсолютно чистые вещества Аннотация: На примере работы Ga-Ge нейтринного детектора проанализированы химические процессы, реализованные в технологии полного извлечения единичных атомов примеси из макроколичества вещества. Показано, что для полной очистки вещества от единичных примесных атомов решающее значение имеет возможность перевода основного вещества в жидкую фазу, диспергирование системы и образование поверхностной оксидной пленки, в которой накапливаются примеси из объема дисперсных частиц. Рассмотрено определение абсолютно чистого вещества и обсуждается принципиальная возможность получения и сохранения макроскопического количества вещества в беспримесном термодинамически неравновесном состоянии. Доп.точки доступа: Киреев, С. М. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |