Пенской, П. К. Эффект совместного воздействия композиций хемостимуляторов (Sb[2]O[3], Bi[2]O[3], MnO[2]) c инертным компонентом (Al[2]O[3]) в процессе термооксидирования арсенида галлия [Текст] / П. К. Пенской, В. Ф. Кострюков, В. Р. Пшестанчик, И. Я. Миттова> // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 414, N 6. - С. 765-767. - Библиогр.: с. 767 (7 назв. )
Рубрики: Химия--Экспериментальная химия Кл.слова (ненормированные): хемостимуляторы -- инертные компоненты -- арсенид галлия -- термооксидирование -- оксиды-активаторы -- лазерная эллипсометрия Аннотация: Цель работы - выявление условий аддитивности воздействия композиций оксидов-активаторов с инертным компонентом и возможных отклонений от нее. Доп.точки доступа: Кострюков, В. Ф.; Пшестанчик, В. Р.; Миттова, И. Я. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Плеханов, А. И. Оптические постоянные нанометровых пленок J-агрегатов органических красителей, измеренные методами спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии [Текст] / А. И. Плеханов, В. В. Шелковников> // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 4. - С. 606-613
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): органические красители -- J-агрегаты органических красителей -- нанометровые пленки J-агрегатов -- оптические постоянные -- показатель преломления -- спектральная эллипсометрия -- поляризационная рефлектометрия Аннотация: С использованием методов спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии измерена дисперсия комплексного показателя преломления тонких пленок J-агрегатов органических красителей. Обнаружено, что практически для всех пленок J-агрегатов в длинноволновой области, где пленка прозрачна, наблюдается нормальная дисперсия. В спектральном диапазоне, где пленка поглощает, наблюдается аномальная дисперсия, которая в J-пике максимальна. Здесь показатель преломления достигает значения n приближенно равно 2. 5-3. 5. Выявлено, что метод поляризационной рефлектометрии обеспечивает адекватную точность определения оптических постоянных n и к нанометровых пленок органических красителей. Доп.точки доступа: Шелковников, В. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Швец, В. А. Измерение нормированной матрицы Джонса анизотропных образцов методом статической эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий> // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 4. - С. 689-695.
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): эллипсометрические измерения -- статическая эллипсометрия -- анизотропные образцы -- нормированная матрица Джонса -- Джонса нормированная матрица Аннотация: Рассмотрены функциональные возможности статической фотометрической схемы эллипсометрических измерений, предложенной ранее, применительно к анизотропным отражающим объектам. Комбинации различных положений оптических элементов, а также добавление к двум используемым положениям поляризатора P = плюс минус45 градусов новых рабочих положений P = 0 градусов, 90 градусов позволили получить 24 уравнения для определения нормированной матрицы Джонса анизотропного образца. Доп.точки доступа: Спесивцев, Е. В.; Рыхлицкий, С. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Дальнодействующее влияние облучения светом на микротвердость алюминия и кремния [Текст] / Д. И. Тетельбаум [и др. ]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 9. - С. 1373-1376. . - Библиогр.: c. 1376 (21 назв. )
Рубрики: Физика Физическая оптика Теория звука Кл.слова (ненормированные): алюминий -- кремний -- механические свойства -- микротвердость -- ультразвуковое поле -- эффект фотопамяти металлов -- сканирующая зондовая микроскопия -- эллипсометрия Аннотация: Исследовано дальнодействующее влияние на микротвердости фольги алюминия и пластин кремния облучения светом в условиях, исключающих значительный макроскопический нагрев образцов. Доп.точки доступа: Тетельбаум, Д. И.; Курильчик, Е. В.; Менделева, Ю. А.; Быстрова, О. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Лебедев, М. С. Оптические свойства многослойных структур [Текст] / М. С. Лебедев, Б. М. Аюпов, Т. П. Смирнова> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 106, N 1. - С. 146-148. : ил. - Библиогр.: с. 148 (5 назв. )
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): многослойные структуры -- оптические свойства структур -- методы эллипсометрии -- многослойные пленки -- монохроматическая нулевая эллипсометрия Аннотация: Показана возможность применения метода эллипсометрии для исследования оптических свойств многослойных пленок и структур. Доп.точки доступа: Аюпов, Б. М.; Смирнова, Т. П. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Эллипсометрия пленок GeO[2], содержащих нанокластеры германия: влияние квантово-размерного эффекта на показатель преломления [Текст] / Д. В. Марин [и др. ]> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 106, N 3. - С. 494-498. : ил. - Библиогр.: с. 498 (11 назв. )
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): модели Бруггемана -- пленки GeO[2] -- эллипсометрия -- нанокластеры германия -- германий -- квантово-размерные эффекты -- показатели преломления -- Бруггемана модели Аннотация: С применением методов сканирующей лазерной и спектральной эллипсометрии, а также комбинационного рассеяния света исследованы пленки GeO[2], содержащие нанокластеры германия, при молярном соотношении GeO к GeO[2] один к одному. Доп.точки доступа: Марин, Д. В.; Горохов, Е. Б.; Борисов, А. Г.; Володин, В. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Атучин, В. В. Высокоточный бесконтактный метод определения химического состава кристаллов ниобата лития по величине двулучепреломления [Текст] / В. В. Атучин, Т. Хасанов> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 2. - С. 225-230. . - Библиогр.: с. 229-230 (55 назв. )
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): ниобат лития -- нестехиометрические кристаллы -- лазерная эллипсометрия -- флуктуация температур -- прецизионные измерения Аннотация: Предложен высокочувствительный метод определения химического состава нестехиометрических кристаллов ниобата лития путем прецизионного измерения двулучепреломления тонких подложек с помощью лазерной эллипсометрии на просвет. Доп.точки доступа: Хасанов, Т. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Эллипсометрические исследования оптических свойств поверхности алюминиевого сплава, облученного высокоэнергетическими ионами ксенона [Текст] / А. И. Беляева [ и др. ]> // Физика и химия обработки материалов. - 2009. - N 5. - С. 33-36 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): эллипсометрия -- оптические свойства -- дюралюминий -- радиационные повреждения поверхности -- эллипсометрические исследования -- алюминиевые сплавы -- ксенон -- ионы ксенона -- высокоэнергетические ионы ксенона Аннотация: С помощью эллипсометрических исследований оптических свойств экспериментально изучено влияние облучения тяжелыми ионами 132Хe{+ 23} с энергиев 132 МэВ на дефектную струтуру поверхности алюминиевого сплава Д16. Доп.точки доступа: Беляева, А. И.; Галуза, А. А.; Дидык, А. Ю.; Клепиков, В. Ф.; Литвиненко, В. В.; Робук, В. Н.; Скуратов, В. А.; Слатин, К. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Князев, Ю. В. Зависимость оптических свойств от структуры аморфного сплава Fe[78]Si[10]B[12] [Текст] / Ю. В. Князев, Ю. И. Кузьмин, А. П. Потапов> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 748-752. - Библиогр.: с. 752 (12 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): ферромагнитные сплавы -- эллипсометрия -- кристаллизация сплавов -- оптические постоянные -- диэлектрические функции -- межзонные поглощения -- электроны проводимости -- плазменные частоты -- релаксационные частоты Аннотация: Методом эллипсометрии исследованы оптические свойства ферромагнитного сплава Fe78Si10B12 в аморфном, кристаллическом и промежуточных структурных состояниях в спектральном интервале 0. 22-18 мкм. Доп.точки доступа: Кузьмин, Ю. И.; Потапов, А. П. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Лебедев, М. С. Профиль распределения показателя преломления по толщине пленок (HfO[2]) [x] (Al[2]O[3]) [1-x] [Текст] / М. С. Лебедев> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 817-821. - Библиогр.: с. 821 (19 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): лазерная эллипсометрия -- твердые растворы -- многокомпонентные растворы -- тонкие пленки -- оптические парамтеры -- летучие соединения -- дипивалоилметанат гафния -- ацетилацетонат алюминия -- монокристаллический кремний -- показатели преломления Аннотация: Продемонстрированы возможности метода лазерной нулевой эллипсометрии для изучения оптических параметров тонких пленок многокомпонентных твердых растворов. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Швец, В. А. О точности эллипсометрического контроля при выращивании полупроводниковых наноструктур [Текст] / В. А. Швец> // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 822-825. - Библиогр.: с. 825 (11 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): многослойные структуры -- эллипсометрия -- оптические константы -- коэффициенты отражения -- показатели преломления -- наноструктуры -- кадмий -- ртуть -- теллур Аннотация: Проведен анализ точности определения параметров многослойных структур при их эллипсометрическом контроле in situ. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Электрофизические свойства Ce[0, 8]Gd[0, 2]O[2-d], модифицированного оксидом титана [Текст] / Е. Ю. Пикалова [и др. ]> // Перспективные материалы. - 2010. - N 1. - С. 76-86 : Рис. 8, табл. 3. - Библиогр.: с. 85-86 (22 назв. ) . - ISSN 1028-978Х
Рубрики: Химия Электрохимия Кл.слова (ненормированные): твердые электролиты -- диоксид церия -- микроструктура -- импеданс спектроскопия -- эллипсометрия -- рентгеновская спектроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- СЭМ Аннотация: Методами рентгеновской спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), импеданс спектроскопии и эллипсометрии изучено влияние ряда факторов: количества спекающей добавки, температуры спекания - на микроструктурные, электрические и оптические свойства твердого электролита Ce[0, 8]Gd[0, 2]O[2-d] + х мол. % TiO[2]. Доп.точки доступа: Пикалова, Елена Юрьевна (научный сотрудник; специалист в области электрохимии твердых электролитов); Сальников, Валентин Васильевич (кандидат химических наук; старший научный сотрудник; специалист в области материаловедения, оптических свойств керамики); Головкин, Борис Георгиевич (кандидат химических наук; старший научный сотрудник; специалист в области химии твердого тела, математического моделирования); Панкратов, Александр Алексеевич (научный сотрудник; специалист в области микроскопии и энерго-дисперсионного микроанализа); Береснев, Сергей Михайлович (научный сотрудник; специалист в области кинетики электрохимических процессов в системах с твердым электролитом) Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Швец, В. А. Анализ оптически неоднородных слоев методом in situ эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец> // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, № 3. - С. 1042-1048. - Библиогр.: с. 1048 (11 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): эллипсометрические измерения -- эллипсометрические параметры -- численное моделирование -- эллипсометрия -- поляризованный свет -- оптически неоднородные слои Аннотация: Рассмотрена задача анализа и обработки данных in situ эллипсометрических измерений, полученных при выращивании слоев на оптически неоднородных и многослойных структурах. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Беляева, А. И. Особенности формирования оксидного слоя на поверхности аморфного сплава Zr[41. 2]Ti[13. 8]Cu[12. 5]Ni[10. 0]Be[22. 5] [Текст] / А. И. Беляева, А. А. Галуза, А. А. Савченко> // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 5. - С. 635-638. . - Библиогр.: c. 638 (12 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): аморфные сплавы -- диффузия -- Интернациональный термоядерный экспериментальный реактор -- ИТЭР -- многоугловая эллипсометрия -- окисление -- оптические свойства -- радиационное воздействие -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сплав Vitreloy-1 -- сплав Zr41. 2Ti13. 8Cu12. 5Ni10. 0Be22. 5 Аннотация: В реальных условиях изучена природа окисления сплава Zr[41. 2]Ti[13. 8]Cu[12. 5]Ni[10. 0]Be[22. 5] (Vitreloy-1) - представителя новых сплавов, перспективных для внутрикорпусных зеркал ИТЭР. Основные методики исследования: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и многоугловая эллипсометрия. Устойчивость оптических свойств Vitreloy-1 к радиационным воздействиям объяснена с помощью механизма окисления поверхностного слоя, основанного на специфике процесса диффузии в аморфных сплавах и особенностях взаимодействия аморфных металлических сплавов с водородом. Доп.точки доступа: Галуза, А. А.; Савченко, А. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Выращивание и оптические параметры кристаллов GaSe: Te [Текст] / С. Ю. Саркисов [и др. ]> // Известия вузов. Физика. - 2010. - Т. 53, N 4. - С. 21-26. . - Библиогр.: c. 26 (15 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): выращивание кристаллов -- монокристаллы -- селенид галлия -- электронная микроскопия -- эллипсометрия Аннотация: Проведена серия технологических экспериментов по выращиванию монокристаллов GaSe: Te методом Бриджмена - Стокбаргера. Исследованы микроморфология поверхности и механические свойства кристаллов с различным уровнем легирования. Получены спектральные зависимости комплексного показателя преломления с помощью эллипсометрии. Экспериментальные данные аппроксимированы в рамках модели Лоренца - Друде. Доп.точки доступа: Саркисов, С. Ю.; Атучин, В. В.; Гаврилова, Т. А.; Кручинин, В. Н.; Березная, С. А.; Коротченко, З. В.; Толбанов, О. П.; Чернышов, А. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Модификация оптических свойств рекристаллизованного W при изменении морфологии поверхности вследствие бомбардировки ионами дейтерия [Текст] / А. И. Беляева [и др. ]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 5. - С. 763-766. . - Библиогр.: c. 766 (14 назв. )
Рубрики: Физика Оптика в целом Электронные и ионные явления. Физика плазмы Кл.слова (ненормированные): блистеринг -- бомбардировка ионами -- зеркала -- коэффициент зеркального отражения -- облучение -- оптические свойства -- рекристаллизованный вольфрам -- рефлектометрия -- температурная зависимость -- эллипсометрия Аннотация: Методами эллипсометрии и рефлектометрии обнаружено аномальное изменение оптических свойств рекристаллизованного W в результате бомбардировки ионами D при температуре в области 535 К. Имеет место принципиальное различие между значениями коэффициента отражения, измеренными рефлектометрией и рассчитанными по данным эллипсометрии. Предложена физическая модель обнаруженного эффекта. Показано, что на поверхности W, облученного при 535 К, имеют место два процесса: появление блистеров и модификация электронной структуры поверхностного слоя. Доп.точки доступа: Беляева, А. И.; Галуза, А. А.; Савченко, А. А.; Слатин, К. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Оптические свойства и электронная структура интерметаллидов YNi[5-x]Cu[x] [Текст] / Ю. В. Князев [и др. ]> // Оптика и спектроскопия. - 2011. - Т. 111, N 5. - С. 847-852. . - Библиогр.: с. 852 (28 назв. )
Рубрики: Физика Спектроскопия Геометрическая оптика. Оптические приборы Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): интерметаллиды -- электронные структуры -- метод эллипсометрии -- оптические свойства -- гексагональные интерметаллиды -- интерметаллические соединения -- квантовое поглощение -- релаксационные частоты -- гексагональные соединения -- эллипсометрия -- оптическая проводимость -- электроны проводимости -- редкоземельные металлы -- проводимость -- иттрий -- парамагнетик Паули -- Паули парамагнетик Аннотация: В определенном спектральном интервале методом эллипсометрии исследованы оптические свойства гексагональных интерметаллических соединений YNi[5-x]Cu[x]. Определены значения основных параметров зонной структуры, полные и парциальные плотности электронных состояний. Доп.точки доступа: Князев, Ю. В.; Кузьмин, Ю. И.; Кучин, А. Г.; Лукоянов, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Оптические характеристики титана с естественным поверхностным слоем [Текст] / Н. И. Стаськов [и др. ]> // Оптика и спектроскопия. - 2011. - Т. 111, N 6. - С. 1008-1012. . - Библиогр.: с. 1012 (10 назв. )
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): титан -- обратные задачи -- поликристаллический титан -- многоугловая эллипсометрия -- поверхностный слой -- геометрические модели Аннотация: Обсуждаются решения обратной задачи многоугловой эллипсометрии для титана с естественным поверхностным слоем – определение толщины приповерхностного слоя и оптических характеристик, с помощью которых можно интерпретировать структуру титана. Доп.точки доступа: Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Ухов, В. А.; Птелицкий, А. Н. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Васильев, В. А. Нанопористые силикатные пленки, сформированные золь-гель методом [Текст] / В. А. Васильев, Д. С. Серегин, К. А. Воротилов> // Наноматериалы и наноструктуры. - 2011. - № 3. - С. 34-41. - Библиогр.: с. 40-41 (24 назв.)
Рубрики: Химия Химия твердого тела Электрохимия Кл.слова (ненормированные): силикаты -- силоксан -- силикатные пленки -- золь-гель метод -- пористость -- показатель преломления -- нанопленки -- спектральная эллипсометрия -- ИК-спектроскопия Аннотация: Методами ИК-спектроскопии и спектральной эллипсометрии исследованы процессы изменения химического состава и микроструктуры органосиликатных пленок, полученных из разных алкоголятных систем, в зависимости от температуры обработки пленок. Доп.точки доступа: Серегин, Д. С.; Воротилов, К. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Исследование оптических свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированном цинком, после термических отжигов [Текст] / В. В. Привезенцев [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1007-1110. - Библиогр.: c. 1110 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): имплантация цинком -- катодолюминесценция -- комбинационное рассеяние света -- оксидные нанокластеры -- оптические свойства -- термический отжиг -- точечные дефекты -- частичная аморфизация -- эллипсометрия Аннотация: Исследованы изменения в процессе термических отжигов оптических свойств нарушенного в результате имплантации ионами Zn слоя Si. Исследования проводились методами комбинационного рассеяния света (КРС), эллипсометрии и катодолюминесценции (КЛ). В имплантированных образцах образуется нарушенная область с частичной аморфизацией толщиной около 60 нм. Термообработка при 400 град. C приводит к частичному отжигу радиационных точечных дефектов, при этом толщина нарушенного слоя уменьшилась до 40 нм. После высокотемпературного отжига при 700 град. C нарушенный слой полностью восстановился ZnO. Доп.точки доступа: Привезенцев, В. В.; Чукичев, М. В.; Миронов, Р. В.; Кривенков, Ю. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |