Конкурентная сегрегация примесей на поверхности поликристаллической меди [Текст] / И. Н. Сергеев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 10. - С. 1464-1466. . - Библиогр.: c. 1466 (7 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): поликристаллическая медь -- электронная оже-спектроскопия -- конкурентная сегрегация -- поверхности -- сера -- углерод -- фосфор -- кинетика сегрегации -- экспериментальные данные -- температурная зависимость Аннотация: Методом электронной оже-спектроскопии исследованы конкурентная сегрегация серы, углерода и фосфора на поверхности поликристаллической меди, а также кинетика сегрегации серы в диапазоне температур 675-875 К. Доп.точки доступа: Сергеев, И. Н.; Кумыков, В. К.; Созаев, В. А.; Шебзухова, М. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Послойный анализ многослойных металлических структур Pd/B[4]C, Ni/C, Cr/Sc методом ВИМС с использованием кластерных вторичных ионов: проблема повышения разрешения по глубине [Текст] / М. Н. Дроздов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 106-110. . - Библиогр.: с. 110 (8 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): вторично-ионная масс-спектрометрия -- интерференционные микроскопы -- матричные эффекты -- металлические пленки -- многослойные структуры -- электронная оже-спектроскопия -- элементный состав Аннотация: Исследуется возможность минимизации матричных эффектов при послойном анализе многослойных металлических структур методом ВИМС, основанная на использовании кластерных вторичных ионов, включающих комбинацию анализируемого элемента и распыляющих ионов цезия либо кислорода. Доп.точки доступа: Дроздов, М. Н.; Дроздов, Ю. Н.; Барышева, М. М.; Полковников, В. Н.; Чхало, Н. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Сергеев, И. Н. Исследование методами ЭОС, СХПЭЭ и ДМЭ особенностей роста сульфида меди при поверхностной сегрегации на грани Cu (III) [Текст] / И. Н. Сергеев, А. А. Шебзухов // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 5. - С. 744-746. . - Библиогр.: c. 746 (11 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): дифракция медленных электронов -- изотермический нагрев -- сегрегация -- сера -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронов -- сульфид меди -- температурная зависимость -- электронная оже-спектроскопия Аннотация: Методами ЭОС, СХПЭЭ и ДМЭ в диапазоне T = 300-1075 К исследованы особенности роста поверхностного сульфида меди, формирующегося на Cu (111) в результате сегрегации примесной серы. Показано, что формирование 2D-сульфида можно представить как многостадийный процесс: накопление сегреганта в атомарно-подобном состоянии до некоторого критического покрытия, зависящего от температуры, сравнительно быстрое образование доменов 2D-фазы в результате химического взаимодействия и упорядочения поверхностных атомов и медленный рост доменов новой фазы до равновесного покрытия. Доп.точки доступа: Шебзухов, А. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Сергеев, И. Н. Влияние температуры на плазмонные возбуждения в поверхностном слое упорядочивающегося сплава Cu-22.5 ат. % Mn [Текст] / И. Н. Сергеев, К. Ч. Бжихатлов, А. А. Шебзухов // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 3. - С. 429-432. - Библиогр.: c. 432 (12 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): плазмонные возбуждения -- поликристаллические сплавы -- приповерхностные слои -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронов -- температурная зависимость -- электронная оже-спектроскопия -- энергетическая зависимость Аннотация: Изучены температурная и энергетическая зависимости характеристических потерь энергии на возбуждение плазменных колебаний в поверхностном слое упорядочивающегося поликристаллического сплава Cu-22. 5 ат. % Mn. На основе анализа плазмонных возбуждений и оже-спектров установлен характер распределения Mn в приповерхностной области. Обнаружено, что температурные зависимости спектров ХПЭЭ имеют особенности в интервале Т 650-750 К, включающем температуру атомного разупорядочения в объеме сплава при Tk 675 К. Доп.точки доступа: Бжихатлов, К. Ч.; Шебзухов, А. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Ионно-индуцированное модифицирование контактных поверхностей [Текст] / К. А. Арушанов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 6. - С. 750-754 : рис. - Библиогр.: c. 754 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Энергетика Ядерные реакторы Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- ионное облучение -- ионно-индуцированная модификация -- контактные поверхности -- оптическая спектроскопия -- поверхности -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная оже-спектроскопия Аннотация: Методами ЭОС, РФЭС и АСМ изучены железоникелевые контактные поверхности после ионно-индуцированной модификации. Коррозионная и эрозионная устойчивость модифицированных контактов связана с особенностями топографии поверхности и образованием нитридных слоев железа и никеля. Обнаружена тонкая энергетическая структура состояния атомов. Ионное облучение контактных поверхностей ведет к образованию пор и конусов. Доп.точки доступа: Арушанов, К. А.; Зельцер, И. А.; Карабанов, С. М.; Майзельс, Р. М.; Маслаков, К. И.; Моос, Е. Н.; Наумкин, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Подгорный, Д. А. Определение толщин сверхтонких пленок методом электронной оже-спектроскопии [Текст] / Д. А. Подгорный, Т. Н. Сметюхова, А. В. Иржак // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 8. - С. 33-36. - Библиогр.: с. 36 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Спектроскопия Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): сверхтонкие пленки -- определение толщин пленок -- метод электронной оже-спектроскопии -- электронная оже-спектроскопия -- ионное травление Аннотация: Описана методика определения толщин сверхтонких пленок методом электронной оже-спектроскопии без разрушения материала. Доп.точки доступа: Сметюхова, Т. Н.; Иржак, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Долбак, А. Е. Диффузия серебра по поверхностям кремния с адсорбированными атомами олова [Текст] / А. Е. Долбак, Б. З. Ольшанецкий // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2015. - Т. 147, вып. 2. - С. 313-319. - Библиогр.: с. 318-319 . - ISSN 0044-4510
Рубрики: Физика Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): дифракция медленных электронов -- диффузия серебра -- поверхностная диффузия -- серебро -- электронная оже-спектроскопия Аннотация: Методами электронной оже-спектроскопии и дифракции медленных электронов изучена диффузия серебра по поверхностям (111), (100), (110) кремния с предварительно адсорбированными атомами олова. Доп.точки доступа: Ольшанецкий, Б. З. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |