Лукашевский, М. В. Электронная спектроскопия покрытий, полученных способом микродугового оксидирования [Текст] / М. В. Лукашевский, С. Д. Федорович, А. В. Лубенченко> // Вестник Московского энергетического института. - 2007. - N 2. - С. 132-136. - Библиогр.: с. 136
Рубрики: Физика Кл.слова (ненормированные): электронная спектроскопия -- микродуговое оксидирование -- тонкие покрытия -- имитационное моделирование -- РОР -- резерфордовское обратное рассеяние Аннотация: Представлен метод спектроскопии отраженных электронов, применяемый для анализа тонких покрытий, полученных способом микродугового оксидирования. Доп.точки доступа: Федорович, С. Д.; Лубенченко, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1) Свободны: эн.ф. (1) |
Изучение химического состава плазмы в процессах получения тонких пленок и покрытий с применением спектрометра "Колибри-2" [Текст] / В. Р. Шаяпов [и др. ]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 96-98. - Библиогр.: с. 98 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): химический состав плазмы -- плазма -- получение тонких пленок -- тонкие пленки -- тонкие покрытия -- получение тонких покрытий -- спектрометры -- Колибри-2 (спектрометры) -- плазмохимическое разложение -- микроплазменный синтез -- гексаметилдисилазан -- оксидные покрытия -- сплавы алюминия -- силикатно-щелочные электролиты -- оптическая эмиссионная спектроскопия -- эмиссионная спектроскопия -- плазмохимическое осаждение -- плазма ВЧ-разряда Аннотация: Рассмотрено применение спектрометра "Колибри-2" для изучения химического состава плазмы на примерах плазмохимического разложения гексаметилдисилазана и микроплазменного синтеза оксидного покрытия на сплаве алюминия в силикатно-щелочном электролите. Доп.точки доступа: Шаяпов, В. Р.; Рогов, А. Б.; Румянцев, Ю. М.; Аюпов, Б. М.; Лабусов, В. А.; Зарубин, И. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Измерение толщины тонких металлических покрытий акустическим методом [Текст] / А. Л. Углов [и др.]> // Контроль. Диагностика. - 2013. - № 3. - С. 25-29. - Библиогр.: с. 29 (9 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): измерение толщины покрытий -- тонкие покрытия -- металлические покрытия -- акустический метод контроля -- скорость упругих волн -- длина волны -- поверхностные волны Рэлея -- Рэлея поверхностные волны -- контроль толщины покрытий -- толщинометрия Аннотация: Показано, что если скорость упругих волн в покрытии и основании отличаются друг от друга, то, используя поверхностные волны Рэлея, можно контролировать толщину тонких (по сравнению с длиной волны) металлических покрытий. Доп.точки доступа: Углов, А. Л.; Хлыбов, А. А.; Ерофеев, В. И.; Бетина, Т. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |