Зубарев, Е. Н. Реакционная диффузия в наноразмерных слоистых системах металл/кремний [Текст] / Е. Н. Зубарев> // Успехи физических наук. - 2011. - Т. 181, N 5. - С. 491-520. : 20 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 519-520 (143 назв. )
Рубрики: Технология металлов Металловедение черных металлов и сплавов Кл.слова (ненормированные): реакционная диффузия -- наноразмерные системы -- слоистые системы -- системы металл/кремний -- термический отжиг -- фазовые превращения -- многослойные системы Аннотация: Представлены основные модели и экспериментальные данные по закономерностям диффузии и фазовым превращениям в наноразмерных многослойных системах в процессе их изготовления и последующего термического отжига. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Уракаев, Ф. Х. Механохимический синтез нецентросимметричных оксидных соединений [Текст] / Ф. Х. Уракаев, Ю. П. Савинцев, В. С. Шевченко> // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 8. - С. 1170-1173. . - Библиогр.: c. 1173 (40 назв. )
Рубрики: Химия Механохимия Кл.слова (ненормированные): аномальная анизотропия -- механохимические реакции -- оксидные соединения -- парателлурит -- рентгенофазовый анализ -- термический отжиг -- упругие постоянные Аннотация: Изучено влияние аномальной анизотропии упругих постоянных парателлурита (альфа-TeO[2]) на скорость следующих механохимических реакций: Bi[2]O[3] + SeO[2] = Bi[2]SeO[5]; Bi[2]O[3] + TeO[2] = Bi[2]TeO[5]; SeO[2] + TeO[2] = TeSeO[4]. Доп.точки доступа: Савинцев, Ю. П.; Шевченко, В. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Коимплантация атомов амфотерных примесей для управления процессами диффузии бора при быстрых термообработках [Текст] / Ю. В. Макаревич [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 5. - С. 643-646. - Библиогр.: c. 646 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Математика Дифференциальные и интегральные уравнения Кл.слова (ненормированные): диффузионные процессы -- кремниевые структуры -- сверхвысокая степень интеграции -- термический отжиг -- точечные дефекты -- физико-математические модели -- численное моделирование -- эффект неравновесной ускоренной диффузии Аннотация: Разработана модель диффузионных процессов, происходящих при быстром термическом отжиге в кремниевых структурах, имплантированных бором и углеродом. Эта модель учитывает кластеризацию бора, а также влияние на его диффузию углерода. Описан процесс переноса междоузельных атомов с учетом внутренних упругих напряжений. Доп.точки доступа: Макаревич, Ю. В.; Комаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Миронов, А. М.; Заяц, Г. М.; Мискевич, С. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Исследование оптических свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированном цинком, после термических отжигов [Текст] / В. В. Привезенцев [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1007-1110. - Библиогр.: c. 1110 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): имплантация цинком -- катодолюминесценция -- комбинационное рассеяние света -- оксидные нанокластеры -- оптические свойства -- термический отжиг -- точечные дефекты -- частичная аморфизация -- эллипсометрия Аннотация: Исследованы изменения в процессе термических отжигов оптических свойств нарушенного в результате имплантации ионами Zn слоя Si. Исследования проводились методами комбинационного рассеяния света (КРС), эллипсометрии и катодолюминесценции (КЛ). В имплантированных образцах образуется нарушенная область с частичной аморфизацией толщиной около 60 нм. Термообработка при 400 град. C приводит к частичному отжигу радиационных точечных дефектов, при этом толщина нарушенного слоя уменьшилась до 40 нм. После высокотемпературного отжига при 700 град. C нарушенный слой полностью восстановился ZnO. Доп.точки доступа: Привезенцев, В. В.; Чукичев, М. В.; Миронов, Р. В.; Кривенков, Ю. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Гильмутдинов, Ф. З. Химический состав поверхностных слоев и топография сплава Fe-8% Mo после импульсного электронного облучения и термообработки [Текст] / Ф. З. Гильмутдинов, С. Г. Быстров> // Физика и химия обработки материалов. - 2012. - № 6. - С. 10-14 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Машиностроение Обработка металлов Кл.слова (ненормированные): сплавы -- железо -- молибден -- импульсное электронное облучение -- термообработка -- окисление сплавов -- поверхностные слои -- топография сплавов -- термический отжиг Аннотация: Исследовано влияние термической и импульсной электронно-лучевой обработки на свойства сплава Fe-8 ат. % Mo. Установлено, что импульсная электронно-лучевая обработка снижает стойкость сплава к окислению, что связано с более глубоким, чем при термическом отжиге, проникновением кислорода в поверхностные слои. Доп.точки доступа: Быстров, С. Г. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Технологические особенности формирования катодных узлов автоэмиссионных и туннельных нано- и микроприборов [Текст] / Н. Н. Балан [и др.]> // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - Т. 3, № 2. - С. 35-43 : рис. - Библиогр.: c. 42-43 . - ISSN 2225-0999
Рубрики: Полупроводниковые приборы Радиоэлектроника Кл.слова (ненормированные): автоэмиссионные микроприборы -- катодные узлы -- силицид платины -- термический отжиг -- туннельные микроприборы -- туннельные преобразователи -- туннельный ток -- электродные покрытия -- электронная эмиссия Аннотация: Рассмотрены конструкции и особенности технологии изготовления перспективных острийных катодов туннельных и автоэмиссионных микроприборов, выполняемых по кремниевой технологии, а также эмиттеров на основе наноструктурированных углеродных материалов. Приведены основные характеристики и технологические режимы формирования электродных покрытий с использованием силицида платины в качестве основного электродного слоя эмиттера. Доп.точки доступа: Балан, Н. Н.; Ивашов, Е. Н.; Лучников, П. А.; Невский, А. Б. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига [Текст] / А. Д. Погребняк [и др.]> // Известия вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 5. - С. 41-50. - Библиогр.: c. 49-50 (35 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): дефекты -- многокомпонентные наноструктурные покрытия -- многокомпонентные покрытия -- наноструктурные покрытия -- сегрегация -- твердость многокомпонентных наноструктурных покрытий -- термический отжиг -- термодиффузия атомов Аннотация: С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (ц-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод « - sin{2}» измерений напряженно-деформированного состояния (рентгеновская тензометрия), исследованы многокомпонентные, наноструктурные покрытия из (Ti-Zr-Hf-V-Nb) N толщиной 1, 0-1, 4 мкм, полученные методом Саthodic - Arc - Vapor - Deposition при температуре синтеза 250-300 °С. В данных покрытиях были изучены элементный состав, микроструктура, остаточные напряжения в нанозернах, профили распределения дефектов и атомов по глубине и на поверхности покрытия в 3D-представлении, исследован фазовый состав, напряженно-деформированное состояние, текстура покрытий до и после отжига при Т[отж] = 600 °С и времени отжига = 30 мин. Показано, что можно в значительной степени повысить устойчивость рассматриваемых покрытий к окислению при высокотемпературном отжиге образованием значительного упругого напряженно-деформированного состояния сжатия в покрытии. Было обнаружено перераспределение элементов и дефектов, их сегрегация вблизи границ раздела интерфейсов, вокруг зерен и субзерен за счет термостимулированной диффузии и окончания процесса спинодальной сегрегации, без значительного изменения среднего размера нанозерен. Доп.точки доступа: Погребняк, А. Д.; Береснев, В. М.; Бондарь, А. В.; Каверин, М. В.; Пономарев, А. Г. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Вартанян, Т. А. Отложенное действие освещения на релаксацию гранулированной серебряной пленки при термическом отжиге [Текст] / Т. А. Вартанян, Н. Б. Леонов, С. Г. Пржибельский> // Оптический журнал. - 2013. - Т. 80, № 2. - С. 24-28 : ил. . - ISSN 0030-4042
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): гранулированная серебряная пленка -- наноструктуры -- термический отжиг -- фотоактивация Аннотация: Обнаружено действие ультрафиолетового излучения в интервале длин волн 300-400 нм на скорость и конечный результат последующего термического отжига тонкой серебряной пленки на сапфировой подложке. Доп.точки доступа: Леонов, Н. Б.; Пржибельский, С. Г. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Особенности создания центров окраски при отжиге кристаллов LiF, облученных ионами Kr с энергией 150 МэВ [Текст] / А. Т. Акилбеков [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 6. - С. 738-742. - Библиогр.: c. 742 (28 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Энергетика Ядерные реакторы Кл.слова (ненормированные): быстрые тяжелые ионы -- кристаллы LiF -- облучение ионами Kr -- термический отжиг -- центры окраски Аннотация: Экспериментально исследовано влияние термических отжигов на F- и F[n]-центры окраски для кристаллов LiF, облученных ионами Kr с энергией 150 МэВ, в зависимости от флюенсов и ионных токов. Установлено, что отжиг при температуре 400 K для кристаллов, облученных флюенсом > или равно10{13} ион/см{2}, приводит к уменьшению F-центров (за счет аннигиляции с H-центрами) и к увеличению комплексных F[n]-центров. Доп.точки доступа: Акилбеков, А. Т.; Русакова, А. В.; Даулетбекова, А. К.; Колобердин, М. В.; Байжуманов, М. Ж.; Здоровец, М. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Подливаев, А. И. Термический отжиг дефектов Стоуна - Уэльса в фуллеренах и нанотрубках [Текст] / А. И. Подливаев, Л. А. Опенов> // Физика твердого тела. - 2018. - Т. 60, вып. 1. - С. 160-164 : 6 рис. - Библиогр. в конце ст. (30 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): Стоуна - Уэльса дефекты -- дефекты Стоуна - Уэльса -- кристаллография в целом -- нанотрубки -- отжиг дефектов Стоуна - Уэльса -- термический отжиг -- фуллерены Аннотация: Методом молекулярной динамики изучен термоактивированный отжиг топологических дефектов Стоуна - Уэльса в углеродных фуллеренах и нанотрубках. Доп.точки доступа: Опенов, Л. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Сорокин, Н. И. Кристаллофизическая модель ионного переноса в нелинейно-оптических кристаллах KTiOPO[4] [Текст] / Н. И. Сорокин, Ю. В. Шалдин> // Физика твердого тела. - 2018. - Т. 60, вып. 4. - С. 706-709 : 3 рис. - Библиогр. в конце ст. (25 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): ионные переносы -- кристаллофизические модели -- кристаллы -- нелинейно-оптические кристаллы -- проводимость -- термический отжиг Аннотация: Методом импедансной спектроскопии исследована ионная проводимость вдоль главных осей a, b и c элементарной ячейки нелинейно-оптических высокоомных монокристаллов KTiOPO[4], исходных и после термического отжига в вакууме. Доп.точки доступа: Шалдин, Ю. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |