Мушаилов, Б. Р. О надежности определения орбитальных параметров экзопланет доплеровским методом [Текст] / Б. Р. Мушаилов, В. С. Теплицкая // Космические исследования. - 2012. - Т. 50, № 6. - С. 452-461 : ил. - Библиогр.: с. 460-461 (43 назв.) . - ISSN 0023-4206
Рубрики: Астрономия Солнечная система в целом Кл.слова (ненормированные): орбитальные параметры -- экзопланеты -- доплеровские методы -- скорость света -- источники излучения -- спектрометрические измерения -- барицентры -- звезда-планета -- планеты Аннотация: Рассмотрено гипотетическое влияние непостоянства скорости света, обусловленного параметрами движения источника излучения, на результаты спектрометрических измерений звезд в рамках программы поиска экзопланет. Проведен учет ускорений звезд относительно барицентра системы звезда-планета (планеты). Доп.точки доступа: Теплицкая, В. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Кострин, Д. К. (кандидат технических наук). Исследование спектрального метода контроля толщины полупроводниковых и диэлектрических пленок [Текст] / Д. К. Кострин // Контроль. Диагностика. - 2015. - № 6. - С. 30-34. - Библиогр.: с. 33-34 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Физика Физическая оптика Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): диэлектрические пленки -- контроль толщины пленок -- математическая обработка сигналов -- оптические спектрометры -- пленки карбида кремния -- показатели преломления -- полупроводниковые пленки -- спектральная интерферометрия -- спектральные методы -- спектрометрические измерения -- спектры отражения -- тонкие пленки Аннотация: Рассмотрены основы метода спектральной интерферометрии, позволяющего проводить контроль толщины полупроводниковых и диэлектрических пленок. Показана необходимость математической обработки спектральных данных для получения достоверных результатов. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |