Плеханов, А. И. Оптические постоянные нанометровых пленок J-агрегатов органических красителей, измеренные методами спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии [Текст] / А. И. Плеханов, В. В. Шелковников // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 4. - С. 606-613
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): органические красители -- J-агрегаты органических красителей -- нанометровые пленки J-агрегатов -- оптические постоянные -- показатель преломления -- спектральная эллипсометрия -- поляризационная рефлектометрия Аннотация: С использованием методов спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии измерена дисперсия комплексного показателя преломления тонких пленок J-агрегатов органических красителей. Обнаружено, что практически для всех пленок J-агрегатов в длинноволновой области, где пленка прозрачна, наблюдается нормальная дисперсия. В спектральном диапазоне, где пленка поглощает, наблюдается аномальная дисперсия, которая в J-пике максимальна. Здесь показатель преломления достигает значения n приближенно равно 2. 5-3. 5. Выявлено, что метод поляризационной рефлектометрии обеспечивает адекватную точность определения оптических постоянных n и к нанометровых пленок органических красителей. Доп.точки доступа: Шелковников, В. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Васильев, В. А. Нанопористые силикатные пленки, сформированные золь-гель методом [Текст] / В. А. Васильев, Д. С. Серегин, К. А. Воротилов // Наноматериалы и наноструктуры. - 2011. - № 3. - С. 34-41. - Библиогр.: с. 40-41 (24 назв.)
Рубрики: Химия Химия твердого тела Электрохимия Кл.слова (ненормированные): силикаты -- силоксан -- силикатные пленки -- золь-гель метод -- пористость -- показатель преломления -- нанопленки -- спектральная эллипсометрия -- ИК-спектроскопия Аннотация: Методами ИК-спектроскопии и спектральной эллипсометрии исследованы процессы изменения химического состава и микроструктуры органосиликатных пленок, полученных из разных алкоголятных систем, в зависимости от температуры обработки пленок. Доп.точки доступа: Серегин, Д. С.; Воротилов, К. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями [Текст] / Х. Хашим [и др.] // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 11. - С. 2191-2195 : 7 рис. - Библиогр. в конце ст. (19 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел--Россия--Нижний Новгород, 2017 г. Кл.слова (ненормированные): магнитооптика -- наноразмерные пленки -- ситалловая подложка -- спектральная эллипсометрия -- ферромагнитные слои -- эллипсометрия Аннотация: С помощью методов эллипсометрии были исследованы оптические и структурные параметры многослойных пленок на ситалловой подложке. Доп.точки доступа: Хашим, Х.; Сингх, С. П.; Панина, Л. В.; Пудонин, Ф. А.; Шерстнев, И. А.; Подгорная, С. В.; Шпетный, И. А.; Беклемишева, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |