Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС [Текст] / И. Г. Шаталов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 74-77. - Библиогр.: с. 77 (2 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): автоматическое профилирование -- профилирование спектрометров -- многоканальные спектрометры -- анализаторы МАЭС -- многокристальная сборка -- линейки фотодиодов -- атомно-эмиссионный спектральный анализ -- спектральный анализ -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- дифракционные решетки -- призменные спектрографы -- ручное профилирование Аннотация: Описан принцип работы алгоритма автоматического профилирования - установления соответствия длины волны регистрируемого излучения номеру фотодиода многокристальных сборок линеек фотодиодов анализаторов МАЭС, входящих в состав многоканальных спектрометров. Доп.точки доступа: Шаталов, И. Г.; Лабусов, В. А.; Неклюдов, О. А.; Панкратов, С. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |