Шилин, А. Н.
    Анализ погрешностей проекционной оптико-электронной системы контроля кривизны оболочек вращения [Текст] / А. Н. Шилин, М. В. Гиркин // Контроль. Диагностика. - 2012. - № 8. - С. 45-49. - Библиогр.: с. 49 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7032
УДК
ББК 32.81 + 30.3
Рубрики: Радиоэлектроника
   Кибернетика

   Техника

   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
погрешности оптико-электронных систем -- оптико-электронные системы -- системы контроля -- контроль кривизны оболочек вращения -- оболочки вращения -- математические модели -- системы управления технологическими процессами -- технологические процессы
Аннотация: Рассмотрена оптико-электронная система контроля кривизны оболочек вращения, приведена ее схема измерения и описан принцип работы, построены уравнения измерения, определены основные источники погрешности и получена математическая модель формирования погрешности.


Доп.точки доступа:
Гиркин, М. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)