Зотов, Валерий. Практический курс сквозного проектирования цифровых устройств на основе ПЛИС фирмы Xilinx [Текст]. Ч. 20 / Валерий Зотов // Современная электроника. - 2009. - N 2. - С. 48-55. . - Продолж. Начало: N 1-9, 2007; N 1-9, 2008; N 1, 2009
Рубрики: Техника--Россия Проектирование Кл.слова (ненормированные): архитектура FPGA -- генерация конфигурационного битового потока -- загрузка в кристаллы -- конфигурационные ПЗУ -- конфигурационные ППЗУ -- кристаллы с архитектурой FPGA -- периферийное сканирование -- ПЛИС -- проекты цифровых устройств -- САПР -- системы автоматического проектирования -- сквозное проектирование -- цифровые устройства Аннотация: Завершается описание параметров процесса формирования конфигурационной последовательности для проектов цифровых устройств, разрабатываемых на базе ПЛИС с архитектурой FPGA. Представлена подробная информация о процедуре генерации файлов программирования для конфигурационных ПЗУ и ППЗУ. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1) Свободны: эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1) |
Иванов, А. Пакет JTAG ProVision [Текст] : разработка приложений периферийного сканирования / А. Иванов // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2012. - № 2. - С. 120-126 . - ISSN 1992-4178
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): программный пакет -- JTAG ProVision -- микросхемы -- стандарты -- периферийное сканирование Аннотация: Программный пакет JTAG ProVision позволяет создавать тестовые приложения любой сложности для устройств с микросхемами, поддерживающими стандарт JTAG. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1) Свободны: эн.ф. (1) |
Иванов, А. Внутрисхемный тестер со встроенной системой периферийного сканирования: особенности построения [Текст] / А. Иванов // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2015. - № 8. - С. 166-171 . - ISSN 1992-4178
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): внутрисхемные тестеры -- периферийное сканирование -- тестирование -- цифровые платы Аннотация: Рассмотрены основные параметры внутрисхемного тестера со встроенной системой периферийного сканирования. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1) Свободны: эн.ф. (1) |