Муртазов, А. К. Прямая задача фотометрии при оптическом мониторинге космических объектов в околоземном пространстве [Текст] / А. К. Муртазов // Известия вузов. Физика. - 2006. - Т. 49, N 11. - С. . 66-70. - Библиогр.: с. 70 (15 назв. )
Рубрики: Астрономия--Солнечная система Кл.слова (ненормированные): ближний космос -- космические объекты -- монохроматическая освещенность -- околоземная астрономия -- околоземное пространство -- ОКП -- оптический мониторинг -- прямая задача фотометрии -- фазовая функция -- фотометрия тел Аннотация: Рассмотрено решение прямой задачи фотометрии тел в околоземном пространстве (ОКП) с использованием независимых данных о фотометрических свойствах их поверхностей, составляющие основу экологического мониторинга ближнего космоса оптическими средствами. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Муртазов, А. К. Организация системы оптического мониторинга загрязнения околоземного пространства [Текст] / А. К. Муртазов // Экологические системы и приборы. - 2009. - N 1. - С. 28-32. . - Библиогр.: с. 32
Рубрики: Экология Загрязнение окружающей среды Кл.слова (ненормированные): экологический мониторинг -- загрязнение окружающей среды -- оптический мониторинг -- загрязнение околоземного пространства -- загрязнение околоземного космического пространства Аннотация: Представлена общая структурная схема оптического мониторинга естественного и техногенного загрязнений околоземного космического пространства и проанализированы ее основные параметры. Доп.точки доступа: Экологические системы, приборы и чистые технологии, международная конференция-выставка Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Дохтуров, В. В. Контроль параметров омических контактов в процессе их термообработки [Текст] / В. В. Дохтуров, В. И. Юрченко, А. В. Юрченко // Контроль. Диагностика. - 2012. - № 11. - С. 27-29. - Библиогр.: с. 29 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Техника Материаловедение Энергетика Электроизолирующие материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): контроль поверхности контактов -- омические контакты -- импульсная термообработка -- полупроводниковые структуры -- контроль сопротивления -- оптический метод контроля -- поверхностное сопротивление -- термическая обработка -- электрическое сопротивление -- оптический мониторинг Аннотация: Описан процесс импульсной термообработки омических контактов к полупроводниковым структурам с контролем сопротивления непосредственно в процессе термообработки. Доп.точки доступа: Юрченко, В. И.; Юрченко, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |