Смачивание границ зерен в системе Al-Mg и формирование диборида магния в контакте с расплавом [Текст] / Б. Б. Страумал [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 9. - С. 1265-1267. - Библиогр.: c. 1267 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): диборид магния -- линии ликвидуса -- оптическая электронная микроскопия -- поликристаллы алюминия -- поликристаллы сплавов -- расплавы -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновский микроанализ -- сканирующая электронная микроскопия Аннотация: Исследован процесс взаимодействия расплава, содержащего магний, с бором в условиях частичного и полного смачивания расплавом Al-Mg границ Al/Al. Доп.точки доступа: Страумал, Б. Б.; Горнакова, А. С.; Мазилкин, А. А.; Страумал, А. Б.; Некрасов, А. Н.; Кондреа, Е. П.; Сидоренко, А. С.; Сурду, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Дидык, А. Ю. Экспериментальное измерение пробегов тяжелых ионов высоких энергий в монокристаллах методом CROSS-SECTION [Текст] / А. Ю. Дидык, О. Л. Орелович, А. С. Сохацкий // Физика и химия обработки материалов. - 2010. - N 2. - С. 5-9 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): тяжелые высокоэнергетические ионы -- проективный пробег -- оптическая электронная микроскопия -- электронная сканирующая микроскопия Аннотация: Методом cross-section с использованием оптической и электронной сканирующей микроскопии измерены проективные пробеги тяжелых ионов с энергиями ~1 МэВ/а. е. м. и более в полупроводниковых и диэлектрических монокристаллах. Проведено сравнение с табличными значениями и результатами компьютерных расчетов по программам E-DEP и SRIM. Доп.точки доступа: Орелович, О. Л.; Сохацкий, А. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Формирование структурно-фазового состояния поверхностного слоя стали 08Х18Н10Т при обработке высокоинтенсивным электронным пучком [Текст] / Ю. Ф. Иванов [и др. ] // Материаловедение. - 2011. - N 5. - С. 43-48.
Рубрики: Технология металлов Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): стали -- электронно-пучковая обработка -- электронная микроскопия -- дендритная кристаллизация -- высокоинтенсивные электронные пучки -- просвечивающая дифракционная электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- оптическая электронная микроскопия -- карбидные фазы Аннотация: Методами оптической, сканирующей и просвечивающей дифракционной электронной микроскопии проведены исследования структурно-фазового состояния поверхностного слоя стали 08Х18Н10Т, подвергнутого электронно-пучковой обработке. Выявлено формирование ячеек дендритной кристаллизации, растворение частиц исходной карбидной фазы, существенное (в 1, 5—2 раза) снижение среднего размера зерен. Доп.точки доступа: Иванов, Ю. Ф.; Горбунов, С. В.; Громов, В. Е.; Воробьев, С. В.; Коновалов, С. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Шишковский, И. В. Послойное лазерное спекание функционально-градиентных структур и объемных изделий чередованием титана и нитинола [Текст] / И. В. Шишковский, В. И. Щербаков // Материаловедение. - 2012. - № 2. - С. 7-14 . - ISSN 1684-579Х
Рубрики: Технология металлов Порошковая металлургия Кл.слова (ненормированные): нитинол -- функционально-градиентные структуры -- лазерное спекание -- селективное лазерное спекание -- порошковые композиции -- трехмерные изделия -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- оптическая электронная микроскопия -- титан -- послойное лазерное спекание -- микроградиентные структуры -- макроградиентные структуры -- пористые структуры Аннотация: Обсуждаются особенности макро- и микроградиентных структур и трехмерных изделий, сформированных при изменении условий селективного лазерного спекания и состава порошковых композиций в системе Ti—Ni. Проведен морфологический и элементный анализы пористых структур методами оптической и сканирующей электронной микроскопии. Показаны расслоение образцов в системе NiTi + Ti и гомогенность между слоями при использовании системы Ti + Ti2Ni по результатам послойного лазерного спекания. Доп.точки доступа: Щербаков, В. И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Механизм удаления стеклянной оболочки с "толстого" аморфного провода из Со-сплава, полученного методом Улитовского-Тейлора [Текст] / П. П. Умнов [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2012. - № 4. - С. 78-83 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Технология металлов Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): аморфные проводы -- стеклянные оболочки -- оптическая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- метод Улитовского-Тейлора -- Улитовского-Тейлора метод -- цилиндрические инструменты -- пластическая деформация -- модельные Со-сплавы Аннотация: Методами оптической и растровой электронной микроскопии изучен механизм удаления стеклянной оболочки с толстого (D=96 мкм) аморфного провода из модельного Со-сплава, полученного методом Улитовского-Тейлора. Показано, что механизм разрушения и удаления стеклянной оболочки при протягивании провода через цилиндрический инструмент с твердым шероховатым покрытием определяется типом и уровнем напряжений, действующих в аморфной металлической жиле. Напряжения, возникающие в продольном направлении из-за различия коэффициентов линейного расширения металла и стекла, обеспечивают легкое скалыванию длинных (5-15 диаметров провода) кусков стеклянной оболочки. Локальные напряжения, возникающие при изгибе провода даже упругой области, способствуют эффективному разрушению оставшихся небольших участков стекла оболочки по направлениям предпочтительного формирования полос сдвига. Высокие изгибные напряжения, возникающие при пластической деформации аморфной металлической жилы, повышают эффективность удаления стеклянной оболочки, но приводят к снижению механических и магнитных свойств металлической жилы за счет образования и роста сетки полос сдвига. Доп.точки доступа: Умнов, П. П.; Стегнухин, А. А.; Лавренюк, А. В.; Петракова, Н. В.; Умнова, Н. В.; Молоканов, В. В.; Заболотный, В. Т. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |