Метрологическое обеспечение бесконтактных измерений параметров микронеоднородного распределения электрического потенциала поверхности [Текст] / К. Л. Тявловский [и др. ] // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2009. - N 4. - С. 34-37. : 5 рис. - Библиогр.: с. 37 (4 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Радиоэлектроника Автоматика и телемеханика Кл.слова (ненормированные): метрологическое обеспечение -- бесконтактное измерение -- электрический потенциал -- микронеоднородное распределение -- измерительные преобразователи -- метрология Аннотация: Рассмотрены вопросы метрологического обеспечения, калибровки и проведения исследовательских испытаний бесконтактных измерений пространственного распределения электромагнитного потенциала поверхности проводящих объектов. Показана необходимость учета и моделирования пространственной неоднородности микроучастков поверхности под отсчетным электродом измерительного преобразователя. Доп.точки доступа: Тявловский, К. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Плебанович, В. И.; Чигирь, Г. Г. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |