Ионно-лучевой синтез нанокристаллов InAs в кристаллическом кремнии [Текст] / Ф. Ф. Комаров [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74. N 2. - С. 273-276 : Рис. - Библиогр.: c. 276 (2 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
высокодозная имплантация -- ионно-лучевой синтез -- кристаллический кремний -- нанокристаллы InAs -- отжиг -- просвечивающая электронная микроскопия -- резерфордовское обратное рассеяние -- спектры фотолюминесценции -- фотолюминесценция
Аннотация: Проведены исследования формирования наноразмерных кристаллитов InAs в подложках Si методом высокодозной имплантации ионов As и In и последующей высокотемпературной обработки. Установлено, что распределения кристаллитов по размерам и по глубине образцов зависят как от температуры имплантации, так и от условий отжига. В спектрах фотолюминесценции образцов с нанокристаллитами зарегистрирована широкая полоса в диапазоне энергий 0. 75-1. 1 эВ.


Доп.точки доступа:
Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Власукова, А. А.; Веш, В.; Комаров, А. Ф.; Мудрый, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)




   
    Особенности формирования нанокристаллов кремния при отжиге слоев SiO[2], имплантированных ионами Si [Текст] / Н. Н. Овсюк [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 5. - С. 644-647. . - Библиогр.: c. 647 (22 назв. )
УДК
ББК 22.32 + 22.345
Рубрики: Физика
   Акустика в целом

   Люминесценция

Кл.слова (ненормированные):
акустические колебания -- акустические фононы -- зародышеообразование в минералах -- ионно-лучевой синтез -- комбинационное рассеяние света -- кристаллические зародыши -- нанокристаллы кремния -- низкочастотное комбинационное рассеяние -- отжиг -- электронная микроскопия
Аннотация: Исследовано влияние отжига на ионно-лучевой синтез нанокристаллов кремния в слоях SiO[2] с помощью низкочастотного комбинационного рассеяния (КР). Низкочастотное КР использовали потому, что возникновение в матрице стекла кристаллических зародышей приводит к дополнительному вкладу в плотность низкочастотных акустических колебательных состояний, обусловленному поверхностными модами колебаний этих зародышей. Электронная микроскопия, вопреки ожиданиям, выявила снижение, а не увеличение размеров зародышей при отжиге. Низкочастотное КР показало, что в образце присутствует не плавное распределение, а два выделенных размера наночастиц 3 и 6 нм.


Доп.точки доступа:
Овсюк, Н. Н.; Venu Mankad; Sanjeev K. Gupta; Prafulla K. Jha; Качурин, Г. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)