Карпов, Ю. А.
    Спектральный анализ в аналитическом контроле металлургического производства [Текст] / Ю. А. Карпов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 3-6 . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48 + 34.3
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

   Технология металлов

   Металлургия в целом

Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- история спектрального анализа -- аналитический контроль -- металлургическое производство -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- металлургические комплексы -- аккредитация лабораторий
Аннотация: Рассмотрена история спектрального анализа и его роль в аналитическом контроле металлургического производства как важнейшего метода контроля.


Доп.точки доступа:
ВМК-Оптоэлектроника

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)




   
    Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС [Текст] / В. А. Лабусов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 7-13. - Библиогр.: с. 13 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
многоканальные оптические спектрометры -- оптические спектрометры -- анализаторы МАЭС -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- атомно-эмиссионный спектральный анализ -- спектральный анализ -- оптические системы -- спектрометры -- вакуумные спектрометры
Аннотация: Приведены схемы и характеристики новых многоканальных спектрометров, построенных на основе современного средства измерения интенсивности спектральных линий - многоканальных анализаторов эмиссионных спектров, а также результаты их сравнения по рабочему спектральному диапазону и разрешению с многоканальными спектрометрами, созданными на базе существующих спектрографов и квантомеров путем замены устаревших систем регистрации на МАЭС.


Доп.точки доступа:
Лабусов, В. А.; Путьмаков, А. Н.; Зарубин, И. А.; Гаранин, В. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)




    Шабанова, Е. В.
    Дуговой сцинтилляционный атомно-эмиссионный анализ порошковых проб при использовании МАЭС с высоким временным разрешением [Текст] / Е. В. Шабанова, А. Е. Бусько, И. Е. Васильева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 24-33. - Библиогр.: с. 33 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
дуговой сцинтилляционный атомно-эмиссионный анализ -- сцинтилляционный атомно-эмиссионный анализ -- атомно-эмиссионный анализ -- порошковые пробы -- МАЭС -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы МАЭС -- высокоскоростные анализаторы -- высокое временное разрешение -- определение содержания элементов -- благородные металлы -- валовое содержание благородных металлов -- программное обеспечение -- сцинтилляционные спектры -- крупность частиц
Аннотация: Рассмотрены возможности применения дугового сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высокоскоростным анализатором МАЭС для определения валовых содержаний золота, серебра, платины и палладия и распределения их частиц по крупности в образцах горных пород, руд и технологических пробах.


Доп.точки доступа:
Бусько, А. Е.; Васильева, И. Е.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)