Отражательный интерферометр для исследования амплитудно-фазовых характеристик полупроводниковых наноструктур [Текст] / А. А. Ковалёв [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 2. - С. 290-291. : Рис. - Библиогр.: c. 291 (12 назв. )
Рубрики: Физика Оптика в целом Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): отражательный интерферометр -- спектральные зависимости -- полупроводниковые наноструктуры -- амплитудно-фазовые характеристики -- многолучевая интерферометрия -- зеркала -- отражательная способность -- квантовые ямы -- интерферометры Аннотация: Предложено применять отражательный интерферометр для измерения спектральной зависимости фазы отражения зеркал, изготовленных на основе многослойных полупроводниковых наноструктур. Доп.точки доступа: Ковалёв, А. А.; Преображенский, В. В.; Путято, М. А.; Пчеляков, О. П.; Рубцова, Н. Н. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |
Кривошеев, В. П. (д-р техн. наук). Аналитический метод расчета типовых компенсаторов и развязывающих устройств [Текст]. I / В. П. Кривошеев, М. А. Сачко ; ст. представлена к публ. О. В. Абрамовым // Информатика и системы управления. - 2010. - N 1 (23). - С. 147-155 : 11 рис. - Библиогр.: с. 155 (10 назв.) . - ISSN 1814-2400
Рубрики: Радиоэлектроника Автоматика и телемеханика Кл.слова (ненормированные): компенсаторы -- развязывающие устройства -- расчеты типовых компенсаторов -- аналитический метод -- автоматизированные системы регулирования -- АСР -- комбинированные автоматизированные системы -- компенсирующие устройства -- амплитудно-фазовые характеристики -- АФХ Аннотация: Рассматривается аналитический метод расчета оптимальных значений настроечных параметров компенсирующих и развивающихся устройств. В первой части работы излагается метод расчета оптимальных значений настроечных параметров реальных дифференцирующих звеньев. Приведены примеры параметрического синтеза комбинированных автоматических систем регулирования. Доп.точки доступа: Сачко, М. А.; Абрамов, О. В. (член редколлегии) \.\ Имеются экземпляры в отделах: всего 5 : н.з. (1), ч.з. (1), эн.ф. (1), аб. (2) Свободны: н.з. (1), ч.з. (1), эн.ф. (1), аб. (2) |
Кривошеев, Владимир Петрович (доктор технических наук). Метод параметрического синтеза цифровых систем управления на основе расширенных амплитудно-фазовых характеристик [Текст] / В. П. Кривошеев, А. В. Епифанцев, Б. А. Кан ; ст. представлена к публ. О. В. Абрамовым // Информатика и системы управления. - 2012. - № 4 (34). - С. 138-147 : рис. - Библиогр.: с. 147 (14 назв.) . - ISSN 1814-2400
Рубрики: Вычислительная техника Архитектура вычислительных машин в целом Радиоэлектроника Автоматика и телемеханика Кл.слова (ненормированные): цифровые системы управления -- амплитудно-фазовые характеристики -- параметрический синтез -- ПИ-регулятор -- Д-разбиение -- метод Д-разбиения -- автоматические системы регулирования Аннотация: В работе решается задача расчета параметров цифрового ПИ-регулятора, обеспечивающего минимальное значение квадратичной интегральной оценки при заданной степени колебательности. Параметры цифрового ПИ-регулятора находятся методом одномерного поиска на линии Д-разбиения, полученной при помощи расширенной амплитудно-фазовой характеристики (АФХ) разомкнутой системы. Перейти: http://ics.khstu.ru/media/2012/N34_18.pdf Доп.точки доступа: Епифанцев, Алексей Владимирович; Кан, Борис Анатольевич; Абрамов, О. В. (член редколлегии) \.\ Имеются экземпляры в отделах: всего 5 : аб. (2), эн.ф. (1), ч.з. (1), н.з. (1) Свободны: аб. (2), эн.ф. (1), ч.з. (1), н.з. (1) |