Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Мокеров, В. Г.$<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   32.86
   М74


    Мокеров, В. Г.
    В России возможна своя твердотельная СВЧ [Текст] / В.Г. Мокеров // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2003. - N 8. - С. 4-8
ББК 32.86
Рубрики: Электроника
Кл.слова (ненормированные):
Электроника -- Гетероструктура -- СВЧ -- Полупроводники

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : з.п. (1)
Свободны: з.п. (1)

Найти похожие

2.


    Васильевский, И. С.
    Влияние гибридизации состояний на низкотемпературный электронный транспорт в неглубоких квантовых ямах [Текст] / И. С. Васильевский, В. А. Кульбачинский [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 132, N 1. - С. 197-199. - Библиогр.: с. 199
УДК
ББК 22.31
Рубрики: Физика--Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
гибридизация состояний -- электронный транспорт -- низкотемпературный электронный транспорт -- квантовые ямы -- неглубокие квантовые ямы
Аннотация: Исследовано влияние гибридизации состояний на низкотемпературный электронный транспорт в неглубоких квантовых ямах.


Доп.точки доступа:
Кульбачинский, В.А.; Лунин, Р.А.; Галиев, Г.Б.; Мокеров, В.Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


   
    Нестехиометрические дефекты в Si-легированных эпитаксиальных слоях GaAs, выращенных на подложках с ориентациями (111) A и (111) В [Текст] / Н. Г. Яременко [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2008. - Т. 419, N 4, апрель. - С. 483-487. - Библиогр.: с. 487 (13 назв. )
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
галлий -- полупроводниковые материалы -- мышьяк -- кремний -- кристаллы
Аннотация: Цель работы - изучение методом фотолюминесценции природы структурных дефектов.


Доп.точки доступа:
Яременко, Н. Г.; Галиев, Г. Б.; Карачевцева, М. В.; Мокеров, В. Г.; Страхов, В. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 10.09.2024
Число запросов 25580
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)