Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Бабанов, Ю. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Бабанов, Ю. А.
    Новые возможности EXAFS-спектроскопии в исследовании локального атомного строения мультислойных наногетероструктур [Текст] / Ю. А. Бабанов, Ю. А. Саламатов // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 7. - С. 932-933. . - Библиогр.: c. 933 (4 назв. )
УДК
^a543.422.8
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-спектроскопия -- атомная структура -- математические алгоритмы -- межатомные расстояния -- мультислойные металлические пленки -- наногетероструктуры -- парная корреляционная функция -- пленки
Аннотация: Рассмотрены новые возможности исследования локального атомного строения мультислойных наногетероструктур методом EXAFS-спектроскопии.


Доп.точки доступа:
Саламатов, Ю. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
2.


   
    Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в металлических многослойных наногетероструктурах [Текст] / Ю. А. Саламатов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 8. - С. 1100-1102. . - Библиогр.: c. 1102 (2 назв. )
УДК
^a543.422.8
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-спектроскопия -- атомная структура -- концентрационные профили -- металлические пленки -- многослойные пленки -- модельные расчеты -- наногетероструктуры -- тонкие пленки
Аннотация: Предложена новая методика, дающая возможность восстанавливать концентрационный профиль и локальное атомное строение на произвольной глубине в металлических многослойных пленках из данных по зависимости EXAFS-спектров от угла падения первичного пучка. Возможности методики демонстрируются при помощи модельных расчетов для трехслойной системы Cr/Fe/Cr. Получены первые экспериментальные результаты для тонких пленок Cr, нанесенных на сапфировую подложку.


Доп.точки доступа:
Саламатов, Ю. А.; Бабанов, Ю. А.; Мухамеджанов, Э. Х.; Устинов, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 11.07.2024
Число запросов 159162
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)